LED应用产品自动化生产线

摘要

本发明涉及一种LED应用产品自动化生产线，包括自动组装设备及老化测试设备，其中所述自动组装设备用于将LED及电子元件装配到电路基板以形成PCB板，所述老化测试设备用于对带有LED的PCB板进行通电老化测试，所述自动组装设备和老化测试设备之间通过传送带或机械手相连。本发明能够改善和避免LED应用产品生产过程中由于人为操作产生随机不良现象，并可实现有效标准工时的准确实施统计、能够全天候工作提高产能效率、能够提高产品质量的一致性、能够将所有实验设备实现在线工作从而实现全批量产品的性耐度检测验证、能够提高企业产品制造成本管理。

说明书

技术领域

本发明涉及LED产品制造领域，更具体地说，涉及一种LED应用产品自动化生产线。

背景技术

LED（发光二极管）自1960年正式商用开始，已从最初仅用作仪器仪表的指示光源，到交通信号标志灯、高位刹车灯（汽车上的第三刹车灯）、显示屏（单色、双色、全色、户内、室外全天候）、手机、彩灯装饰（轮廓灯、椰树灯、烟花灯），再到现在城市亮化工程照明中得到了广泛应用，展现了良好的发展空间和广阔的市场前景。

由于LED行业标准未建立实施，目前LED行业还没有真正的全过程自动化生产线。各家LED产品（例如LED屏等）制造企业的生产人员及制造设备、工艺、品质体系不统一，所制造出来的LED产品质量参差不齐。并且各企业普遍存在接单交货缩短制造过程环节、人工部分抽样检测、材料管理不标准，制程控制不严谨、生产操作原始、产品检测数据不真实等问题。

由于各制造企业的非规范化生产，使得LED应用产品的使用效果受到了极大影响：所生产出的产品大多质量低下、寿命短至一两年、图象马赛克斑块严重、使用后随环境气候影响老化所致产品漏水、颜色变黄、电路基板腐蚀、接插件老化脱落、图象数据传输干扰，用户在购买了产品后不能够长时间稳定的使用产品。

此外，在现有的LED应用产品生产中，普遍采用产品抽样方式进行测试，即在产品生产完成后再按一定比例选取成品，并对这些成品进行测试。然而该种方式由于采用事后测试，因此仅能得到产品的合格率数据，无法保证所有产品都合格。　

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有LED产品由于采用非规范化生产而导致的品质不稳定的缺陷，提供一种LED应用产品自动化生产线。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种LED应用产品自动化生产线，其特征在于，包括自动组装设备及老化测试设备，其中所述自动组装设备用于将LED及电子元件装配到电路基板以形成PCB板，所述老化测试设备用于对带有LED的PCB板进行通电老化测试，所述自动组装设备和老化测试设备之间通过传送带或机械手相连。

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，还包括通过机械手或传送带接于所述老化测试设备出口的成品组装设备，所述成品组装设备用于为经过老化测试的PCB板装配塑胶套件。

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，所述老化测试设备包括低温老化测试设备或高温老化测试设备，所述低温老化测试设备或高温老化测试设备包括测试线，所述测试线包括传送轨道及在所述传送轨道上的托架，所述托架包括多个放置PCB板的基座，所述传送轨道通过托架为基座内的PCB板供电。

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，所述老化测试设备包括低温老化测试设备和高温老化测试设备，其中低温老化测试设备和高温老化测试设备之间通过传送架相接，所述低温老化测试设备和高温老化测试设备分别包括测试线，所述测试线包括传送轨道及在所述传送轨道上的托架，所述托架包括多个放置PCB板的基座，所述传送轨道通过托架为基座内的PCB板供电。

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，所述低温老化测试设备包括有冷冻室，所述冷冻室的两端分别设有冷库门，所述测试线位于两个冷库门之间。

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，所述低温测试设备包括多层测试线，所述多层测试线的传送轨道的传输方向相同。

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，所述低温老化测试设备的入口设有用于将带有PCB板的托架置于低温老化设备不同层测试线上的装置。

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，所述高温老化测试设备包括多层测试线以及移层设备，相邻层测试线的传送轨道的传输方法相反，所述移层设备用于将高温老化测试设备的上层测试线上的托架移动到下层的测试线。 

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，所述高温老化测试设备和低温老化测试设备之间设有多层过渡段，所述多层过渡段用于放置经低温老化测试设备处理的PCB板及托架并将所述PCB板及托架送入高温老化测试设备的其中一层测试线。 

在本发明所述的LED应用产品自动化生产线中，在所述老化测试设备的出口设有将不合格的PCB板取出的分离机构。

 本发明的LED应用产品自动化生产线，通过全自动的流水线进行LED应用产品的规范化生产并在生产线中加入老化测试环节，解决了LED应用产品的自动化生产以及本身真实使用性耐度的测试，从而提高了LED应用产品的使用效果。

附图说明

图1是本发明LED应用产品自动化生产线第一实施例的示意图。

图2是本发明LED应用产品自动化生产线第二实施例的示意图。

图3是低温老化测试设备实施例的平面示意图。

图4是高温老化测试设备实施例的平面示意图。

图5是多层过渡段的示意图。

具体实施方式

为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。

如图1所示，是本发明LED应用产品自动化生产线实施例的示意图。在本实施例中，自动化生产线包括自动组装设备10及老化测试设备20，其中自动组装设备10用于将LED及电子元件装配到电路基板以形成PCB板，老化测试设备20用于对带有LED的PCB板进行通电老化测试，上述自动组装设备10和老化测试设备20之间通过传送带或机械手相连，以将经自动组装设备10组装完成的PCB板移转到老化测试设备20。

如图2所示，在本发明的另一实施例中，自动化生产线除了包括自动组装设备10’及老化测试设备20’外，还包括成品组装设备30。该成品组装设备30通过机械手或传送带接于老化测试设备20’的出口，并用于为经过老化测试的PCB板装配塑胶套件等。

在上述实施例中，LED应用产品可以是LED显示屏（户外或户内）、LED指示牌、LED灯饰、LED照明灯具产品等。

上述的自动组装设备10和10’具体包括上料机、印刷机、高速机、低速机、回流焊设备、下料机以及波峰焊设备等，从而实现LED应用产品的原材料上线生产，具体包括自动上料、自动进行产品标签、自动印刷锡膏、自动贴片、自动插件、自动焊接等工艺流程。

在上述的LED应用产品自动化生产线中，老化测试设备20可具体包括低温老化测试设备和高温老化测试设备，或者包括上述两者之一。

如图3所示，是低温老化测试设备实施例的平面示意图。在该低温老化测试设备中，包括封闭的冷冻室21。该冷冻室21的两端分别为待测试产品的入口和出口并分别设有冷库门215，在冷冻室21内设有连接两个冷库门215的测试线。上述冷库门采用推拉门结构，可沿冷库门轨道216滑动，从而实现冷库门215的开启和关闭。测试线包括传送轨道及在传送轨道上的托架213，每一托架213包括多个放置PCB板的基座。此外，在冷冻室21内还设有落地式冷风机211，用于实现冷冻室21的制冷，在冷冻室21外侧设有用于供电的主电箱212。在本实施例中，可通过调节落地式冷风机211将冷冻室21内的温度调整到零下30摄氏度。

在上述测试线中，传送轨道包括导电结构并为托架213基座内的待测试PCB板供电，从而实现PCB板上的LED的工作状态下的测试。

为了实现冷冻室21及其内部设备的检修，在冷冻室21的侧面还可设置带有视窗的检修门214。

特别地，为提高冷冻室21的使用效率，冷冻室21内的的测试线可设置为上下多层，这些测试线的传送方向相同，即都从冷冻室21的入口传送到冷冻室21的出口。也就是说，每一PCB板仅在其中一层测试线上从端部传送到尾部。

如图4所示，是上述高温老化测试设备实施例的平面示意图。在本实施例中，高温老化测试设备包括位于封闭室（80摄氏度）内，包括测试线。同样地，高温老化测试设备的测试线包括传送轨道及在传送轨道上的托架218，每一托架218包括多个放置PCB板的基座。在上述测试线中，传送轨道包括导电结构并为托架218基座内的待测试PCB板供电，从而实现PCB板上的LED的工作状态下的测试。

特别地，为提高高温老化测试效率，高温老化测试设备的测试线可设置为上下多层（共有奇数层），其中相邻的测试线的传送方向相反，例如上层的传输方向为从入口位置传向出口位置，而第二层的的传输方向则为从出口位置传向入口位置，第三层则从入口位置传输到出口位置。这样，每一PCB板需在每一层测试线上传送。在上述高温老化测试设备的端部，设有将上层的托架移动到下层托架的移层装置。

当老化测试设备20同时包括低温老化测试设备和高温老化测试设备时，在低温老化测试设备和高温老化测试设备之间具有多层过渡段，如图5所示。该多层过渡段用于放置经低温老化测试设备处理的PCB板及托架并将PCB板及托架送入高温老化测试设备的其中一层测试线，例如最上层测试线。

具体地，在本实施例中，多层过渡段包括多层托架平台221及升降平台222。其中多层托架平台221的层数与低温老化测试设备内的测试线的层数一致，从而从低温老化测试设备中出来的托架直接放置于多层托架平台221上。升降平台222将来自多层托架平台不同高度的托架提升（或下降）到高温老化测试设备顶层（或底层）测试线高度并将托架置于测试线的传送带上。

在低温老化测试设备的入口处，也设置有与上述多层过渡段类似的装置，用于将带有PCB板的托架置于低温老化设备不同层测试线上。

上述自动化生产线中，在老化测试设备20的出口设有将不合格的PCB板取出的分离机构。

本发明的自动生产线中，LED应用产品检测过程一改传统只在研发实验室验证测试的模式，而将可靠性实验设备放置到生产流程工序，将所有产品全面实现低温和/或高温在线存储加速老化。模拟测试能够满足全世界各地区环境气候的使用，从而避免了产品在恶劣气候条件的使用隐患。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。