一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法

摘要

本发明属于三维机器视觉领域，涉及一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法。该方法通过投射3种周期分别为P1、P2和P3的正弦或者余弦规律变化的光信息，每种光信息需要经过4-8步相移，通过每个周期的相移图案，分别解算每个周期的相位值、两个周期的合成相位值以及三个周期的最终合成相位值。最后通过合成相位分别计算每个周期的全局相位值，进而通过三维重建获得物体的全貌三维坐标。本发明所设计的全局相位解相方法，优于传统的格雷码相位解相方法，可以有效的解决三维测量中被测物体表面颜色不一致的测量难题，无需喷涂显影剂，更加绿色环保。