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用于测量磁场的传感器元件、磁场传感器和用于制造传感器元件的方法

摘要

一种用于测量磁场的传感器元件(42,42’),具有晶片结构(12),该晶片结构(12)具有半导体衬底(13)、绝缘层(14,14’)和半导体层(15,15’)。传感器元件具有穿过绝缘层(14,14’)穿通接触的凸模(16,16’),该凸模带有半导体衬底端面(17)、半导体层端面(18)和在半导体衬底(13)中的成对的平行的侧面(19;19’),其中所述端面(17,18)和侧面(19;19’)具有带有高导电性的区段(28,29,30),并且所述凸模(16,16’)在内部(27)中具有带低导电性的掺杂。

著录项

  • 公开/公告号CN102169955A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 罗伯特·博世有限公司;

    申请/专利号CN201110003497.9

  • 发明设计人 T.奥姆斯;M.凯克;

    申请日2011-01-10

  • 分类号H01L43/06(20060101);H01L43/14(20060101);G01R33/07(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李少丹;李家麟

  • 地址 德国斯图加特

  • 入库时间 2023-12-18 03:13:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-09

    授权

    授权

  • 2013-02-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L43/06 申请日:20110110

    实质审查的生效

  • 2011-08-31

    公开

    公开

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