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用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法和使用该方法的光记录介质

摘要

本发明提供了用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法及使用该方法的光记录介质。在用于使用比如BD-WO类型光盘的光盘记录/再现数据的光盘设备中,该方法允许通过用于记录缺陷区域的数据的替换写入操作,来正常读取和再现写在光盘的缺陷区域上的记录数据。当在记录处理期间在光盘的预定记录扇区中检测到缺陷时,将记录数据写在对应于缺陷区域的备用区上,并因此管理写入数据。

著录项

  • 公开/公告号CN101615416A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-12-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LG电子株式会社;

    申请/专利号CN200910160474.1

  • 发明设计人 朴容彻;金成大;

    申请日2003-11-27

  • 分类号G11B20/18;G11B7/007;G11B7/0037;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人戚传江

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2023-12-17 23:18:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-04-18

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11B20/18 公开日:20091230 申请日:20031127

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-02-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-12-30

    公开

    公开

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