光盘的焦点位置调整方法及利用该方法的光盘装置

摘要

本发明提供一种光盘的焦点位置调整方法及利用该方法的光盘装置，即使DMA部分因破损或缺陷不能读取的情况下，可以适当地进行聚焦调整。是在具有记录了光信息记录介质的预先信息的区域的光信息记录介质的记录面上，调整光学再现模块的焦点位置，并记录或再现信息的光盘的焦点位置调整方法中，预先，对从光盘的记录了预先信息的区域得到的、有关适当设定的焦点位置的多个信息进行存储，在将光盘搭载在装置中且不能对上述信息进行再现的情况下，利用预先存储的、有关适当设定的焦点位置的多个信息间的关系，由从光盘得到的有关焦点位置的至少1个信号，来对搭载在装置中的光盘的焦点位置进行调整。

说明书

技术领域

本发明涉及在光盘上记录/再现信息的光盘装置的光盘的焦点位置调整方法及利用该方法的光盘装置。

背景技术

将激光束照射在圆盘状的记录介质的光盘上，在光盘上记录信息或者将其反射光变换为电信号，读出再现记录的信息的光盘装置，由于近年来的HD-DVD或BD等大容量的记录介质的出现，由个人计算机等开始，广泛用作各种装置的信息记录介质。

然而，在这种光盘装置中，在光盘上记录或再现信息时，必需调整照射在光盘上的激光束的焦点位置。因此已知，以下的专利文献等记载的焦点控制装置/方法。

[专利文献1]：日本专利特开2000-155961号公报，

[专利文献2]：日本专利特开2001-184678号公报。

发明内容

即，上述专利文献1的焦点控制装置，在其制造的生产线上，预先存储误差成为最小的焦点位置信息，以该焦点位置信息作为焦点位置调整的开始点。另外，作为装置的调整方法，再现记录的数据(焦点位置信息)，另一方面，如果未记录该数据，则在驱动测试区域中进行数据记录，同时再现该数据。因此在误差最小而RF信号振幅最大的中间设定焦点位置。

另外，在上述专利文献2的焦点控制方法中，进行如下控制，在记录有预先信息的区域的缺陷信息管理区(所谓的DMA(defectmanagement aria))为未记录的情况下，对PID区域进行再现，并设定焦点位置，以使PID错误量成为最小，并利用驱动测试区进行信息的记录·再现，并在凸区和凹区上设定焦点位置，以使该再现信号的抖动量或该再现信号的数据错误量成为最小，另外，在缺陷信息管理区中记录有信息的情况下，对缺陷信息管理区中的信号进行再现，并设定焦点位置，以使该信号的抖动量成为最小，并进行信息的记录或再现。

然而，在上述的以往技术中，特别是在光盘的DMA(缺陷管理区域)部分因破损或缺陷不能读取的情况下，存在在驱动测试区记录·再现信息，调整时间长的问题。特别是在驱动测试区域中进行数据的记录·再现的方法中，记录时的焦点位置使记录的标记形状变化，必需进行调整使得在该记录信号中的数据错误量最小，但仍存在得不到适当的光束点形状(例如最小弥散圆)的问题。

本发明是考虑上述以往技术的问题而提出的，其目的是要提供即使在该DMA部分由于破损或缺陷不能读取的情况下，也可以适当地调整焦点在光盘上的焦点位置的调整方法和利用该方法的光盘装置。

为达到上述目的，根据本发明首先提供一种光盘的焦点位置调整方法，是在具有记录了光信息记录介质的预先信息的区域的光信息记录介质的记录面上，调整光学再现模块的焦点位置，并记录或再现信息的光盘的焦点位置调整方法，预先，对从光盘的记录了上述预先信息的区域得到的、有关适当设定的焦点位置的多个信息进行存储，在将光盘搭载在装置中且不能对上述信息进行再现的情况下，利用上述预先存储的、有关适当设定的焦点位置的多个信息间的关系，由从上述光盘得到的有关焦点位置的至少1个信号，来对搭载在装置中的上述光盘的焦点位置进行调整。

另外，为了达到上述目的，根据本发明提供一种光盘装置，是对在介质的一部分上具有记录了预先信息的区域的光信息记录介质记录或再现信息的光盘装置，至少具有，旋转驱动搭载在装置中的光信息记录介质的旋转驱动模块；在利用上述旋转驱动模块进行旋转驱动的光信息记录介质的记录面上，照射用于记录、再现信息的光束的光学再现模块；对上述光学再现模块的光信息记录介质的半径方向位置，以及照射在该光信息记录介质的记录面上的光束的焦点位置进行调整的控制模块，其中，上述控制模块，预先对从光盘的记录了上述预先信息的区域得到的、有关适当设定焦点位置的多个信息进行存储，然后，在将光盘搭载在装置中且不能对记录了上述预先信息的区域的信息进行再现的情况下，利用上述预先存储的、有关适当设定的焦点位置的多个信息间的关系，由从上述光盘得到的有关焦点位置的至少1个信号，来对搭载在装置中的上述光盘的焦点位置进行调整。

另外，在本发明中，上述光盘的焦点位置调整方法或利用该方法的光盘装置优选为，预先从记录了上述预先信息的区域得到的多个信息包含，最密信号的振幅成为最大的焦点位置，疏信号的振幅成为最大的焦点位置，和PID信号的振幅成为最大的焦点位置。进一步优选为，在将光盘搭载于装置中且不能对记录了上述预先信息的区域中的信息进行再现的情况下，从上述光盘得到的有关焦点位置的至少1个信号为上述PID信号。

如以上那样，提供了即使在因该DMA部分破损或缺陷不能读取的情况下，页可以适当地调整焦点的光盘的焦点位置调整方法。利用该方法可以提供性能优良的光盘装置，并具有实用上优良的效果。

附图说明

图1为表示本发明的一个实施方式的光盘装置的大致结构的方框图；

图2为可利用本发明的实施方式的光盘装置对信息进行再现·记录的DVD的外观图；

图3为上述图2的DVD中的信息记录部的凸区域和凹区域的截面图；

图4为上述图2的DVD中的凸区域和凹区域的形成格式的说明图；

图5为在上述图2的DVD中的凸区域和凹区域之间形成的坑地址区域的一部分放大立体图；

图6为上述光盘装置的光学再现模块的光拾取器和处理其检测信号的信号处理部，以及包含其周边部分的详细结构的方框图；

图7为在上述光盘的焦点位置调整方法的处理的流程图；

图8为在上述光盘的焦点位置调整方法中利用的各种焦点位置和振幅的关系的一个例子的图；

图9为求得最密信号(3T信号)成为最大的焦点位置和振幅饱和的疏信号(例如6T或其以上的宽度的信号)成为最大的焦点位置的具体的电路结构的一个例子的图；

图10为求得表示PID信号的振幅成为最大的焦点位置的具体电路结构的一个例子的图。

符号说明

100：光盘(高密度光记录介质)，

210：半导体激光器

220：聚光用光学透镜，

230：半反射镜

250：物镜

260：受光元件(检测器)

303、304：加法电路，

311：减法电路，

313、316：D/A

314：加法器，

317：模拟开关SW，

351：二进制化电路，

352：抖动测定电路，

354：数据解调电路，

361：PLL相位误差检测电路

362：积分电路

363：比较电路

400：微机。

具体实施方式

以下，参照附图，详细说明本发明的实施方式。

首先参照图1说明本发明的一个实施方式的光盘装置的概略结构。图1所示的光盘装置为表示作为DVD—RAM等圆盘状的高密度信息记录介质的所谓可在光盘上读写的光盘装置的大致结构的方框图。

在图1中，符号100表示上述光盘(例如，DVD—RAM等)。另外，符号200表示光拾取器，在其内部构成光学再现模块，该光学再现模块例如包括，作为产生所希望的波长的激光的发光元件的半导体激光器210；将发出的激光变为平行光的准直透镜220；将入射光引导至后述的反射镜，将反射光引导至后述的受光元件的半反射镜(halfmirror)230；改变光的方向的反射镜240，使激光收束为规定的光束直径并照射在上述光盘100的记录面上的物镜250；对来自上述半反射镜230的反射光进行受光并检测的受光元件260等。

在该实施方式中，为了使物镜250与光盘100的厚度一致，改变焦距，通常跟踪伺服系统进行工作。在这种情况下，由于稳定点在最优位置，如果在透镜移动时，向跟踪控制系统施加突跳脉冲(kick pulse)信号，则透镜发生瞬时水平移动，快速达到另一透镜的跟踪稳定点。

另外，在图1中，符号300为信号处理部，用于将由上述光学再现模块的受光元件260检测的反射光变换为电信号，并进行规定的处理。该信号处理部300与为了对光盘装置全体进行控制而设置的微型计算机(以下简称为微机)400连接，并进行包括以后详细说明的聚焦控制的方法等的各种控制。即，该微机400与激光驱动部500、送进部600、主轴控制部700、二维促动器控制电路800连接，以进行各种控制。

即，根据上述构成，半导体激光器210为上述光学再现模块的光拾取器200的发光元件，并由微机400控制向半导体激光器210供给的电流，控制其发光强度，另外，通过控制送机控制用马达650的旋转，控制上述光拾取器200在光盘100的半径方向上的位置。在该实施方式中，作为光盘100的半径方向上的移动机构，由齿轮660表示，其用于根据上述送进控制用马达650的旋转，使光拾取器200在半径方向上移动，但是，在本发明中，并不限定于此。

另外，上述微机400，通过控制旋转驱动主轴的马达750的旋转，实现CLV(固定线速度)或ZCLV(区域的固定线速度)控制，它们是在上述高密度信息记录介质中广泛采用的线速度一定的控制。而且，该微机400还通过二维促动器控制电路800，利用电磁线圈850作为其动作模块，由电磁作用实现上述光拾取器200的物镜250的焦点位置控制。这里，利用该二维促动器控制电路800实现的二维位置控制，除了与上述光盘100的记录面垂直的方向的物镜250的位置控制(聚焦控制)以外，还包含通过与其成直角的半径方向上的微小的位置调整，用于轨道跟随的跟踪位置控制，而且还进行上述聚光用光学透镜220的控制。

而且，根据上述结构的光盘装置，可以利用接口控制电路(图中没有示出)解读来自个人计算机等图中没有示出的主机(外部设备)发出的命令或信息数据，在基于微机400的控制下，执行信息的记录再现或查找动作等。另外，还可以利用信号处理部300进行信号变换，通过光拾取器200，将信息记录在光盘100上，而且还可以将通过受光元件260读入的各种信号，经信号处理部300解调为原来的数据，对该解调后的数据与再现命令对应地，从上述接口控制电路传送至主机。这里，省略信息的记录和再现动作的详细说明。

其次，参照图2～图5，在上述信息记录介质中，特别详细说明DVD—RAM的光盘100。首先，图2为利用光盘装置进行信息记录·再现的光盘100的外观图。图2(a)表示其立体图，图2(b)表示其平面图。另外，图3为图2所示的光盘100的信息记录部的凸区(land)L和凹区(groove)G的截面图。图4为表示光盘100的凸区L和凹区G的形成格式的说明图。图5为表示在光盘100的凸区L和凹区G之间形成的坑地址区域的一部分放大立体图。

首先，说明图2所示的光盘100。在这种光盘中，特别是称为DVD—RAM的可记录的介质中，在其透明的基板上的记录层上利用相变化由激光照射作出结晶状态或非晶状态的标记(坑)，这样可以写入信息。另外，再通过读取由作出标记(坑)形成的结晶非晶的光反射率的变化，再现记录在光盘100上的信息。作为图2所示的光盘100的一个例子，可举出上述称为DVD—RAM的可记录的信息记录介质。如图2所示，其分为在其中央部分上记录规定的控制信息等(控制数据)的ROM区域110，和其周边的RAM区域120。如图2(b)所示，上述RAM区域120作为其信息记录部分，沿着用于在圆盘上连续记录信息的的螺旋状的轨道T，为了提高记录密度，分别形成称为凸区(land)及凹区(groove)的区域，由此可进行信息的记录和读取。

另外，上述RAM区域120分割成几个区域，具体地是在RAM区域120的内侧和外侧，具有有关装置控制的信息的管理区域121，122，在其间设置读写用户信息的用户区域123。上述管理区域121和122图中没有示出，但是更详细为，分成PID区域(物理ID)，光盘测试区，驱动测试区，缺陷信息管理区等。驱动测试区在进行预写时，作为写入区域使用。缺陷信息管理区为记录光盘的缺陷管理信息的区域，也称为上述的DMA区域(DMA部分)。另外，上述用户区域123还由在半径方向上进行多个分割的多个区域(区)构成。

其次，图3表示这种信息记录部的凸区L和凹区G的截面，这些凸区L和凹区G在圆盘状记录介质100的半径方向交替地形成，且，在这些凸区L和凹区G中分别有由图中虚线表示的部分标记，作与其以外的部分不同的状态(非晶状态或结晶状态)记录信息。

另外，在图4中表示上述高密度信息记录介质中的上述凸区L和凹区G的形成格式。在该图中，凸区L用斜线部分表示，另一方面，在这些斜线部分之间形成凹区G。而且，这些凸区L和凹区G以光盘100的一周为单位，在凸区L和凹区G之间交替地变化形成。在该图中，以点划线的部分为边界，凸区L和凹区G切换。另外，在这些凸区L和凹区G中，利用多个称为区段(sector)的单位构成，各个区段之间利用称为坑地址区域PA的区域进行划分。光盘内RAM区域120，从内周向着外周分为多个区域(区)。在各区域内由同一区段数构成。

而且，在图5中表示这些形成在凸区L和凹区G之间坑地址区域。首先，在图5(a)中表示从凸区L向凹区G移行的部分(上述图4的点划线部分的坑地址区域)。检测记录信号的激光，如图中点划线的箭头所示，从凸区L，通过坑地址区域PA，向凹区G移动。

另一方面，在图5(b)表示从凸区L向凸区L移行的部分。这里，检测记录信号的激光，如图中的点划线箭头所示，从凸区L通过坑地址区域PA，向下一个凸区L移动。从凹区G向另一凹区G移动时，与上述同样，也通过坑地址区域PA。

在以上说明的光盘100中，信息交替地记录在高度不同的凸区L和凹区G中。由于这样，为了可靠地从这种光盘100再现信息，必需利用光学方法，分别对高度不同的凸区L和凹区G最优地控制，作为利用激光的反射，再现信息的光学由现装置的光拾取器，特别是使激光在记录介质表面收束照射的光学透镜(物镜)的焦点位置。另外，由于检测系统的像差，必需分别在凸区和凹区上加不同的偏移(offset)。又，从图可以看出，同时利用多个坑列P，P...，在上述坑地址区域PA的两侧记录上述光盘100上的地址编号。由于这样，为了从光盘100再现信息，必需正确地检测坑地址区域PA上的这些多个坑P。

因此，在从上述光盘100再现信息时，进行最优地控制上述光学再现模块的光学透镜的焦点位置的所谓最优位置控制是重要的，同时必需可靠地检测记录上述坑地址区域PA的地址编号的坑列P。另外，上述图3～6中没有示出，但在凸区L和凹区G的半经方向的边界上，以一定的频率为中心调制地址信息，形成蜿蜒的(半径方向的微少量摇动)凹区方式。通过摆动检测电路(图中没有示出)检测每旋转一周的摆动个数，可以通过上述主轴控制部700高效率而且稳定对马达750进行旋转控制。

另外，上述坑地址区域PA在圆周方向分为二个，分别设置坑列P。通过比较从二个坑列P得到的ID信号，可以确定相邻的区段的数据。

其次，在图6中表示在本发明的一个实施方式中，对上述光盘进行记录·再现的光盘装置，特别是作为光学再现模块的光拾取器200的受光元件260或处理其检测信号的信号处理部300及其周边部分的详细结构。

从图6可看出，受光元件260分割为4个检测部分A，B，C，D。由上述光盘100的记录面反射，并入射在受光元件260上的反射光，利用上述分割的各个检测部分而分别变换为电信号输出。将从上述分割的各个检测部分A，B，C，D的输出，输入至加法电路301～304，分别进行(A+C)，(B+D)，(A+D)，(B+C)的加法运算。再将从上述加法电路301和302的输出，输入至加法电路305，由此，输出对来自上述各检测部分A，B，C，D的全部输出进行加法运算后的(A+B+C+D)的信号(FR信号)。

再将来自上述加法电路301和302的输出同时输入至减法电路306，由此，在该输出中输出由((A+C)-(B+D))表示的用于跟踪控制的信号，即跟踪误差信号TE。

另一方面，该跟踪误差信号TE同时通过低通滤波器(LPF)308后，利用加法器309与来自D/A变换器310的偏移值进行加法运算。为了进行凹区G中的跟踪控制，首先利用反转电路312使跟踪误差信号TE的极性反转，然后，通过开关元件315输出至上述二维促动器控制电路800。另一方面，为了进行凸区L的跟踪控制，在其后通过开关元件318，输出至上述二维促动器控制电路800。其中，在其一方的开关元件，即通过凸区L的跟踪误差信号的开关元件318中，经由反转电路312输入上述L/G切换信号。即，由此，根据跟踪误差信号TE，交替地将凸区L的跟踪控制信号和凹区G的跟踪控制信号输出至上述二维促动器控制电路800。该输出成为用于进行跟踪控制的TR信号，利用上述图1的送进控制部600控制光拾取器200的半径方向的位置。在D/A变换部310中，从上述微机400经由其A/D变换部施加偏离值。这里，由于与本这明的关系不大，省略其详细说明。

另外，将从上述加法电路303，304输出的信号(A+D)和(B+C)输入减法电路311，这样，得到由((A+D)-(B+C))表示的聚焦误差信号FE。而且，聚焦误差信号FE分成上述凸区L的聚焦误差信号FE和凹区G的聚焦误差信号FE来处理，然后，通过二维促动器控制电路800，控制上述光拾取器200的物镜250的焦点位置(与光盘100的表面垂直的方向)。

即，作为来自减法电路311的输出的聚焦误差信号FE((A+D)-(B+C))，利用加法器314加聚焦偏移，输出至二维促动器控制电路800。在D/A313和D/A316中的凹区G、凸区L的偏移设定，通过模拟开关SW317加在加法器314上。而且，在D/A变换器313，316中，由微机400施加上述凹区G和凸区L的聚焦控制用的偏移值。另外，在上述模拟开关SW317的控制输入中，仍输入从微机400输出的切换控制信号，即凸区L/凹区G的切换信号。

另外，通过上述D/A变换器313，316对聚焦误差信号FE进行加法运算的偏离值，在本发明中，成为在将光学透镜的焦点位置控制在最优位置而采用的学习控制中所学习的、结果发生变动的变数。而且，作为该光盘装置的制品在出厂时等，初始设定为预先规定的值。该初始设定值记录在作为上述微机400的记录装置的EPROM等中。然后，来自上述加法电路305的和信号(A+B+C+D)，通过高通滤波器(HPF)320，低通滤波器(LPF)321，并经过二进制化电路351，由数据解调电路354解调信息记录数据，在微机400中，读入作为来自光盘100的读取数据。另外，在本实施方式中，与数据解调同时，在微机400中分别通过355，356读入ECC错误计数和PID错误计数。如后所述，抖动(jitter)测定电路352，将基于二进制化电路351输出的抖动量的数据变换为抖动错误脉冲数而输出。该脉冲数通过抖动错误脉冲计数器353读入微机400。

然而，一般当利用上述以往技术的光盘装置，对记录在光盘上的信息进行记录·再现时，对记录在作为信息记录区域的一部分的上述缺陷信息管理区(DMA区域)中的数据(焦点位置信息)进行再现，并进行焦点位置的最优位置控制。然而，在该区域中没记录(未记录)该数据的情况下，则在驱动测试区域进行数据的记录，同时，再现该记录的数据，并使误差最小，而且在RF信号振幅成为最大的中间，设定焦点位置(上述专利文献1)。或者，在上述缺陷信息管理区(DMA区域)中记录信息的情况下，设定焦点位置，以使对记录在该区域中的信号进行再现，且信号的抖动量或数据错误量成为最小；另一方面，在DMA区域为未记录的情况下，再现PID区域，设定焦点位置，以使PID的误差量成为最小；还对驱动测试区中的信息进行记录·再现，并设定凸区域和凹区域上的焦点位置，以使该再现信号的抖动量或该再现信号的数据错误量成为最小(上述专利文献2)。

但是，如上所述，当上述缺陷信息管理区(DMA区域)因破损或缺陷而不能再现的情况下，不能调整聚焦。因此，在本发明中，预先在生产线中存储，作为焦点位置调整的结果的焦点位置(P_adj)，和PID(物理标识：Physical Identification)信号电平成为最大的焦点位置(P_PIDmax)的信息。然后，在利用该缺陷信息管理区(DMA区域)的振幅信息调整焦点位置的情况下，特别是在该DMA区域因破损或缺陷而不能再现的情况下，例如，利用上述预先记录的信息(P_adj及P_PIDmax)，和搭载光盘后实际上使焦点位置可变(即，在使焦点位置控制电路闭合的状态下)并使上述PID信号电平成为最大的焦点位置，来设定适当的焦点位置。

而且，在本发明中，作为求得最优的焦点位置的方法有，找到DMA区域中的最密信号(例如3T-3T信号)的振幅成为最大(max)的焦点位置，和疏信号(例如6T或其以上的宽度的信号(作为一个例子8T-8T信号))的振幅成为最大(或饱和)的焦点位置，在它们之间设定焦点位置(例如，其中间值)。在最密信号成为最大的情况下，存在光点宽度在轨道行进方向上变小，而在与轨道垂直方向上加宽的可能。在最疏信号成为最大的情况下，存在光点宽度大，而在与轨道垂直的方向上变窄的可能。在其间存在，轨道行进方向和垂直的方向同时都小，而成为适合记录再现的所谓最小弥散圆的焦点位置。而且此时，在该DMA区域(部分)因破损或缺陷不能再现的情况下，不能进行调整，因此采用对策。

即，例如在生产线等上，预先在例如构成上述微机400的一部分的存储器内存储，在DMA区域中使焦点位置可变(由焦点位置控制电路)得到的、上述密信号成为最大(max)的焦点位置(P密信号max)，和上述疏信号成为最大(max)的焦点位置(P疏信号max)，以及PID信号的振幅成为最大(max)的焦点位置(P_PIDmax)的信息。

然后，在将光盘搭载在装置内并进行记录·再现动作的情况下，再现记录在DMA区域中的数据(焦点位置信息)，进行焦点位置的最优位置控制。但是，其结果是，在该DMA区域中有缺陷的情况下，在搭载光盘后，进行图7所示的处理。在上述微机400中，利用存储在其一部分的存储器内的软件执行该处理。

在图7中，当处理开始时，首先判定该DMA区域中是否有缺陷(即是否因破损或缺陷而不能再现)(S71)。其结果，在没有缺陷(NO)，即该(DMA区域)的缺陷信息管理信息可以读取的情况下，利用其振幅信息执行通常的焦点位置调整(S72)。

另一方面，在上述判定(S71)的结果为，判定在该DMA区域中有缺陷(YES)的情况下，首先，使焦点位置可变(由焦点位置控制电路)求得该DMA区域中的PID信号电平成为最大(max)的焦点位置(S73)。其次，如以下那样，由上述预先记录的(1)上述密信号成为最大(max)的焦点位置(P密信号max)，(2)上述疏信号电平成为最大(max)的焦点位置(p疏信号max)，和(3)PID信号电平成为最大(max)的焦点位置(PPIDmax)的信息，求得作为焦点位置调整结果的焦点位置(P_adj)和PID(物理标识)信号电平最大(max)的焦点位置(Pp_IDmax)之间的关系(例如差分)(S74)。

(P密信号max+P疏信号max)/2-PPIDmax＝ΔP。

而且，在图8中表示上述DVD-RAM的上述各种焦点位置和振幅的关系的一个例子。图中的“L”表示凸区的焦点位置，“G”表示凹区的焦点位置。而且如上所述，这些有关焦点位置的信息(调整值)保持在EEPROM等存储器内。

然后，在搭载于装置内的光盘的DMA区域中，使焦点位置可变，(由焦点位置控制电路(loop))求得PID信号电平成为最大(max)的焦点位置(PPIDmax′)(S75)。然后，考虑(修正)由上述得到的调整焦点位置的结果的焦点位置(P_adj)和PID信号的电平成为最大(max)的焦点位置(PPIDmax)之间的关系(差分＝ΔP)，并如下那样，设定该搭载的光盘的焦点位置P(S76)，从而结束一系列的处理。

P＝PPIDmax′+ΔP

即，调整预先求出的焦点位置的结果的焦点位置(P_adj)，即P密信号max与PPIDmax，以及PID信号的电平成为最大(max)的焦点位置(P_PIDmax)之间的关系，具体地说为，若其间的差分(＝ΔP)，则即使在搭载于装置内的光盘的该DMA区域中有缺陷的情况下，因为可在该DMA区域中检测上述PID信号，因此可以求得其电平成为最大(max)的焦点位置(P_PIDmax)。然后，由此，可根据由预先求出的结果而求得的上述关系(差分＝ΔP)，适当地调整所搭载的光盘上的焦点位置。

通常，在装置的生产线上，搭载测试用光盘进行在焦点位置调整，然后通过进行记录·再现，进行该装置的性能测试。这时，通常，焦点位置调整的判定是根据记录·再现动作产生的错误率(error rate)来确认是否得到良好的记录·再现。在错误率不好的情况下，在记录的区域中，使焦点位置可变，再进行再现，以使错误率为最小。在本发明中，优选为，以预先在生产线上，存储作为焦点位置调整的结果的焦点位置(P_adj)和PID(物理标识)信号电平成为最大(max)的焦点位置(P_PIDmax)的信息(关系)为目的，在该状态再次进行测试，同时记录其焦点位置。

即，在记录错误率最小(min)的信息的情况下，有必要在对发生串话(crosstalk)的相邻轨道进行记录的区域中进行聚焦调整。在这种情况下，主要是在光点在与轨道垂直的方向宽的情况下发生。然而，在上述DMA区域中，由于在相邻的两个轨道(凸区域和凹区域)上不进行记录，因此在这种装置中，不能进行适当调整。与此相对，在生产线上测试时，因为在数十个轨道以上进行记录·再现，因此存在对相邻轨道进行记录的区域，可以更适当地进行调整。

另外，在上述例子中，由搭载后进行调整的焦点位置(PPIDmax)，考虑上述差异成分(例如，加法运算或减法修正)而对焦点位置进行设定，但是，特别是在对上述的DVD-RAM等在串话大的高密度信息记录介质进行记录·再现的装置中，不能只用从光盘表面得到的信号电平(例如RF信号)设定适当的焦点位置。

而且，在上述例子中，作为由DMA区域中的最密信号(3T信号)成为最大的聚焦位置，和振幅饱和的疏信号(例如6T或其以上宽度的信号)成为最大的焦点位置求得最优的焦点位置的方法，如上所述，说明了对记录信号影响没有影响的调整方法，即，测定密信号和长标记或长空白的信号(疏信号)的各振幅成为最大的焦点位置，并在其中间调整为光点直径成为最小的弥散圆的最优的焦点位置。然而，也存在利用光拾取器，使最小弥散圆，和密信号成为最大的焦点位置一致的情况。因此，将焦点位置调整设定为密信号成为最大的位置和疏信号成为最大的位置的中间的何位置，可利用光拾取器特性进行评价及最终设定。例如，除了上述例子以外，可在密信号成为最大的位置和疏信号成为最大的位置之间，调整为2：1比例的位置。

另外，在图9中表示用于求得最密信号(3T信号)成为最大(max)的焦点位置，和振幅饱和的疏信号(例如6T或其以上的宽度的信号)成为最大(max)的焦点位置的具体的电路结构的一个例子。在图10中表示用于求得PID信号的振幅成为最大(max)的焦点位置的具体的电路结构的一个例子。

另外，由于密信号和疏信号成为最大的焦点位置与记录信号品质无关，而相同，因此即使为记录功率不适合的错误(error)多的信号，也可适当地进行调整。特别是在DVD-RAM中，在市售的光盘上设置有预先记录的DMA(缺陷管理区域：defect management aria)区域。这是记录称为主要缺陷清单(Primary defect list：PDL)和次要缺陷清单(secondary defect list：SDL)的交换(交替)信息的地方，在光盘的最内周上有2个，在最外周上也有二个。在有验证(Verify)状态下对该部分进行记录时，在记录区域上有缺陷，其结果，在空白区域中进行改写，此时为了更新信息而需要对其进行改写。即如果在这个区域中进行焦点位置调整，则也可以在购入的空白(Blank)(未记录)盘上进行调整。

而且，在这个区域中进行调整时的问题是，由于该区域为受限的部分，在因为伤痕或污染欠缺的情况下，不能调整。作为与这个问题对应的方法，如在上述以往技术中那样，有在光盘测试区域记录，在该部分上调整的方法。然而，利用这种方法，在装置达到可以记录再现状态，即准备好状态前需要时间、使用方便性恶化。

在本发明中，焦点位置调整时，除了密信号和疏信号的振幅成为最大的焦点位置以外，还优选偏移该位置以便不受损伤或污染的影响，而对可取得的信号和焦点位置的信息进行取得。而且，例如，除上述PID(物理ID)信号的振幅，还考虑摆动(wobble)振幅或推挽(push-pull)振幅。特别是，作为本发明的优选实施方式，优选取得上述PID信号的VFO(4T-4T重复信号、Date PLL(数据推挽)相位同步用)部分的振幅(PID＝VFO振幅)成为最大的焦点位置的信息。而且，该PID信号作为DVD-RAM盘的RAM区域的地址用信号，是预写入(prewrite)的信号，在光盘的全部表面上，设置于各个区段(sector)的每一个(全部为2376143个区段)。

另外，当进行上述焦点位置调整时，将密信号成为最大、疏信号成为最大以及PID-VFO成为最大的焦点位置，记录在例如EEPROM等非易失性存储器中，然后，可以利用密信号成为最大和疏信号成为最大的位置的规定比率，设定为焦点位置。又如上所述，焦点位置调整可在光盘的最内周和最外周上进行调整，在其间，优选由其结果设定为线形，另外，由于基本上在生产线上进行测试时进行，没有上述DMA欠缺，调整可正常地结束。然而，在上述DMA欠缺的情况下，可以设定为PID-VFO最大的焦点位置。然后，如果搭载光盘时，上述DMA没有欠缺，则与上述同样，进行测定，并利用密信号成为最大和疏信号成为最大的规定比率，设定为焦点位置。