用于表征光纤的一项或多项性能的方法

摘要

一种表征从光纤预制棒中得到的光纤的一项或多项性能的方法，其中通过将各段单独的长度部分卷绕在被编码的卷筒上来将光纤分成单独的长度部分，之后测量被编码的长度部分的一项或多项性能。

说明书

本发明涉及用于表征从光纤预制棒中得到的光纤的一项或多项性能的方法。

例如从本申请人的美国专利No.6260510中可以从本质上获悉由预制棒来制造光纤的方法。这种方法所使用的预制棒具有60毫米或更大的直径，从中可拉制出具有超过200千米总长的光纤。除此之外，已经知道了可从中得到500或1000千米的总光纤长度的预制棒。在从热预制棒中拉制出光纤之后，光纤被分成许多单独的长度，它们可具有相互间不同的尺寸，如4，8，12，25或50千米。这样，从同一个预制棒中得到的光纤的数量可超过100。在这种光纤的生产中，为了表征光纤的几何特性和光学特性，需要对光纤进行大量的测量。许多这种性能在光纤长度的起始和末端处测量。因此，在光纤生产过程中的规模的极大提高和容量的增长将导致在光纤长度上所进行的测量量显著地增加。另外，光纤在进行抗拉强度的机械检测时可能会断裂，导致在卷筒上出现随机的光纤长度，其结果是得到单独的光纤长度，各段光纤都必须随后接受性能测量。

本发明的目的是减少在光纤制造过程中为了表征光纤的性能而对光纤所进行的测量的次数。

本发明的另一目的是提供一种表征从光纤预制棒中得到的光纤的一项或多项性能的方法，其中，通过对从中可制出单个光纤长度的原始光纤上的各段单个光纤长度的位置进行精确地跟踪，以便减少所进行的测量的次数。

本发明的特征在于，所述方法包括以下步骤：

i)从光纤预制棒中拉制出光纤，

ii)将步骤i)中的光纤分成单独的长度部分，这是通过将各所述单独的长度部分卷绕在卷筒上来实现的，

iii)对步骤ii)中的各卷筒进行编码，各卷筒均包含步骤i)中的原始光纤的一个特定长度部分，

iv)测量光纤上的在步骤iii)中所记录的编码为已知的一个长度部分的一项或多项性能，

v)测量光纤上的除了在步骤iii)中所记录的编码为已知的步骤iv)中的长度部分以外的一个随机长度部分的一项或多项性能，

vi)通过对在步骤iv)中得到的测量结果和在步骤v)中得到的测量结果进行数学处理，确定光纤上的除了根据步骤iv)和v)所测量的长度部分之外的一段或多段长度部分的一项或多项性能，和

vii)根据数学处理过的测量数据来将所述性能标定给步骤vi)中的所述其它长度部分。

由于可以知道特定长度部分起源于原始光纤上的哪一位置，因此可以减少在最终光纤上所进行的测量的次数，具体地说可通过其它长度部分的性能数据计算出特定的性能来实现。毕竟，如果形成光纤起始部分的长度部分的特定性能和形成所述光纤末端的长度部分的特定性能处于预定的误差值内，并且这些长度部分例如间隔开50千米的距离，那么所述的特定性能也可标定给光纤的任意中间长度部分。这样，只需进行两次测量就足够了，所得的结果可标定给所有其它的长度部分。

在执行步骤iii)和/或步骤vi)时最好使用电子存储设备。

使用这种电子存储设备、尤其是计算机系统对于建立统计报表系统来说是特别理想的，这样，性能的任何插补都可通过简单的方式来进行，从而显著地减少了以前需要对卷绕于卷筒上的各光纤所进行的测量的次数。另外，这种电子存储设备提供了关于各段单个长度部分在原始光纤中的位置的精确信息。

在一些特定的实施例中，在执行步骤i)时，被拉制出的光纤最好卷绕在卷筒上。因此，这种实施例就提供了整个光纤长度存在于其上的母卷筒。光纤可根据需要从母卷筒传送到多个子卷筒上，随后对这些子卷筒进行编码，并为其提供随机的单个光纤长度，如4，8，12，25或50千米。

另一方面，在本发明的一个特定实施例中，步骤v)-vii)可被单个步骤viii)所代替，该步骤viii)包括将在步骤iv)中所测得的性能标定给另一长度部分，该长度部分在步骤iii)中记录的编码是已知的，并毗邻于步骤iv)中的长度部分。

通过这种实施例，一个卷筒上的光纤的性能就可被标定给另一卷筒上的另一光纤，其中所述光纤的长度部分最初毗邻于所述另一光纤的长度部分。这里所用的用语“最初”应理解为光纤在其分成单独的长度部分之前的状态。因此，在这一特定实施例中，不需要测量位于两个不同卷筒上的各光纤的性能，而只需测量其中一条光纤的性能并将所得到的值标定给另一光纤就足够了。在特定的条件下，可以将只测量了一次的性能标定给所有其它的单个长度部分。

对于单模光纤来说，与本发明相关的有关性能包括：衰减、几何性能、色散性能、偏振模色散、截止波长和模场直径；对于多模光纤来说，则包括：衰减、几何性能、模时延差(DMD)、数值孔径和带宽，但是本发明并不限于此。其中的几何性能包括：光纤中的各层如纤芯和包层以及包围光纤的保护层的直径、不圆度和同心度。其中的色散性能包括：零色散(色散达到零值时的波长)、色散斜率和不同波长处的色散。

本发明将通过示例来进行说明，然而在这一方面必须注意到，该示例仅仅以说明性的方式给出，不应理解为构成了本发明的任何限制。

在示例中应参照附图，该图示意性地显示了本发明。

示例

利用通常所知的方法、例如从美国专利No.6260510中所知的方法从杆形预制棒1中拉制出光纤，这些光纤随后分布在多个辊筒或卷筒2，3，4，5，6上。在所述分布期间，电子存储设备记录了预制棒上的哪一位置对应于卷绕在各辊筒2，3，4，5，6上的光纤。然后测量辊筒2上的光纤7的性能。对例如辊筒6上的光纤8也进行类似的性能测量。如果所测得的性能处于预定的误差内，那么就将所述性能标定给卷绕在卷筒3，4，5上的各条光纤。如果已经测量了辊筒2上的光纤7的末端部分的性能，那么所测得的性能将对应于辊筒3上的光纤8的起始部分的性能。