法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2005-03-16
授权
授权
2003-03-19
实质审查的生效
实质审查的生效
2002-01-16
公开
公开
机译: 集成电路,用于集成电路的测试器,用于集成电路的测试方法,用于集成电路的测试方法程序以及将带有记录方法的介质记录到集成电路的测试方法中
机译: 半导体存储装置,ID码及其高位地址的写入方法,测试器装置,测试器装置的测试方法
机译: 带有共享输出通道的测试垫的薄膜型半导体封装,带有测试通道共享的图案的薄膜型半导体封装,测试器件和半导体器件的测试方法以及在半导体中的测试方法