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一种植被冠层垂直结构参数测量方法、装置及系统

摘要

本发明公开了一种植被冠层垂直结构参数测量方法、装置及系统,所述测量方法包括:接收并保存用户输入的标定杆基准尺数据;测量装置接收包含待测植被和标定杆的拍摄图像;根据所述标定杆基准尺数据计算所述拍摄图像中待测植被的生长参数。实施本实施例的植被冠层垂直结构参数测量方法时,通过设置于室外的拍摄设备对待测植株及标定杆进行拍摄,并将拍摄图像传输至测量装置,测量装置在接收到该包含待测植被和标定杆的拍摄图像后,根据标定杆基准尺数据计算拍摄图像中待测植被的生长参数,实现全天候高频次、无人值守活体测定,可对同一观测目标长时间连续数据获取,极大提高了观测数据在研究和应用方面的作用。

著录项

  • 公开/公告号CN110849329A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院遥感与数字地球研究所;

    申请/专利号CN201910988667.X

  • 申请日2019-10-17

  • 分类号G01C11/02(20060101);G01C11/08(20060101);

  • 代理机构44374 深圳国新南方知识产权代理有限公司;

  • 代理人雷元平

  • 地址 100000 北京市朝阳区大屯路甲20号

  • 入库时间 2023-12-17 06:34:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C11/02 申请日:20191017

    实质审查的生效

  • 2020-02-28

    公开

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