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一种无限散射单光子探测光时域反射测量方法

摘要

一种无限散射单光子探测光时域反射测量方法,首先将周期性宽脉冲光注入到被测光路系统中并在被测光路系统中产生后向光信号;再将被测光路系统产生的后向光信号转换为电脉冲信号,并对电脉冲信号进行计数,计数的时钟与周期性宽脉冲光的产生时钟同步;最后根据每相邻两次计数得到的计数值的差值即可绘制出被测光路系统的损耗和反射曲线。本发明利用无限散射原理实现单光子探测光时域反射测量系统的测量,提出利用相邻两次计数得到的计数值的差值绘制被测光路系统的损耗和反射曲线的方法,测量结果与色散无关且解决了系统分辨率受光源脉冲宽度限制的问题,以宽脉冲光作为探测光源,在实现高空间分辨率时减少了对窄脉冲激光器的需求。

著录项

  • 公开/公告号CN110702239A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201911028245.4

  • 申请日2019-10-28

  • 分类号G01J11/00(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人葛启函

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-12-17 06:21:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J11/00 申请日:20191028

    实质审查的生效

  • 2020-01-17

    公开

    公开

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