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MIPI接口全高清液晶屏的测试方法

摘要

本发明提供一种MIPI接口全高清液晶屏的测试方法,包括:步骤1、提供一应用EP2C5Q208C8N芯片和SSD2825芯片全高清液晶屏测试治具,该治具包括:测试模块及MIPI模块;步骤2、将该待测液晶屏与背光源驱动模块及MIPI模块电性连接;步骤3、接通电源,该微处理器检测背光源驱动模块、液晶驱动模块及信号转换模块;步骤4、若检测到异常,则发出报警提示,若检测到无异常,则对该些模块进行初始化;步骤5、液晶驱动模块初始化该待测液晶屏;步骤6、信号转换模块将微处理器传送过来的RGB信号转换为MIPI信号传输给待测液晶屏,该待测液晶屏显示对应图像;步骤7、根据图像判断该待测液晶屏是否合格。

著录项

  • 公开/公告号CN103323962A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡博一光电科技有限公司;

    申请/专利号CN201310245655.0

  • 发明设计人 成小定;

    申请日2013-06-19

  • 分类号G02F1/13(20060101);G09G3/36(20060101);

  • 代理机构44265 深圳市德力知识产权代理事务所;

  • 代理人林才桂

  • 地址 214125 江苏省无锡市滨湖区锦溪路100号

  • 入库时间 2024-02-19 20:34:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-16

    专利权的转移 IPC(主分类):G02F1/13 登记生效日:20180920 变更前: 变更后: 申请日:20130619

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-01-20

    授权

    授权

  • 2013-10-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/13 申请日:20130619

    实质审查的生效

  • 2013-09-25

    公开

    公开

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶屏测试方法,尤其涉及一种MIPI接口全高清液晶屏 的测试方法。

背景技术

液晶显示器为平面超薄的显示设备,它由一定数量的彩色或黑白像素组 成,放置于光源或者反射面前方。液晶显示器具有薄型化、功耗低、适用面 广等特点,备受工程师青睐。而且,现今液晶屏的发展以全高清液晶屏为主。

现有中小尺寸的液晶屏最常用的连接模式,一般是MCU模式和RGB模 式,MCU模式控制简单方便,无需时钟和同步信号,但要耗费GRAM,难以 做到大屏幕,常用于显示静止图像;RGB模式无需GRAM,传输速度较快, 但操作复杂,需要时钟及同步信号控制,常用于显示视频或动画。但这两种 模式均采用EPGA的电路设计,EPGA编辑能力差,无法完成复杂的设计,而 且EPGA的电路复杂,耗能高,信号传输速度慢,还容易受到干扰。而且,随 着3G智能手机的快速发展,上述两种模式难于满足客户对移动设备的智能化 要求,如快速的数据传输速度、高分辨率、小巧精密、及节能等。

针对上述问题,国家专利局公开了申请号为201210059828.5的发明专利 申请,该专利提供了一种MIPI接口液晶屏测试方法,该方法采用以S3C2440 芯片为主的测试模块执行测试程序来驱动液晶屏,并采用以SSD2805芯片为 的MIPI模块将RGB信号转换为MIPI信号,进而传递给液晶屏显示,完成测试, 该方法传输速度高、抗干扰能力强。然,本领域技术人员可知该方法采用 S3C2440芯片和SSD2805芯片能够很好地满足高清液晶屏(最高支持的分辨率 为QHD分辨率(540×960)的测试,难于满足现今主流的全高清液晶屏(分 辨率为1920×1080)的测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种MIPI接口全高清液晶屏的测试方法,该方法 可以快速测试全高清液晶屏,简化了全高清液晶屏的生产工序,提高生产效 率,且该方法具有信号传输速度快、抗干扰能力强及能耗低等特点。

为实现上述目的,本发明提供一种MIPI接口全高清液晶屏的测试方法,包 括以下步骤:

步骤1、提供全高清液晶屏测试治具,该全高清液晶屏测试治具包括:测 试模块、与该测试模块电性连接的背光源驱动模块、及与该测试模块电性连接 的MIPI模块,所述测试模块包括微处理器及与该微处理器电性连接的存储模 块,该存储模块预先烧录有测试程序,所述MIPI模块包括液晶驱动模块及信号 转换模块,该液晶驱动模块及信号转换模块均电性连接至所述微处理器,所述 测试模块采用EP2C5Q208C8N芯片,所述MIPI模块采用SSD2825芯片;

步骤2、提供一待测液晶屏,将该待测液晶屏与背光源驱动模块及MIPI模 块电性连接;

步骤3、接通该全高清液晶屏测试治具的电源,该微处理器运行测试程序 并对电性连接于该微处理器的背光源驱动模块、液晶驱动模块及信号转换模块 进行检测;

步骤4、若该微处理器检测到背光源驱动模块、液晶驱动模块或信号转换 模块异常,则发出报警提示,若该微处理器检测到背光源驱动模块、液晶驱动 模块及信号转换模块无异常,则对背光源驱动模块、液晶驱动模块及信号转换 模块进行初始化;

步骤5、所述微处理器控制背光源驱动模块驱动待测液晶屏的背光源工作, 液晶驱动模块初始化该待测液晶屏;

步骤6、所述微处理器下发RGB信号至信号转换模块,所述信号转换模块 将该RGB信号转换为MIPI信号并传输给待测液晶屏,该待测液晶屏根据该 MIPI信号显示对应图像;

步骤7、根据图像判断该待测液晶屏是否合格。

所述全高清液晶屏测试治具设有一USB接口,该USB接口与所述存储模块 电性连接,所述测试程序通过该USB接口烧录到测试模块的存储模块中。

所述全高清液晶屏测试治具还包括一接口模块,所述接口模块分别与背光 源驱动模块、及MIPI模块电性连接,测试时,所述待测液晶屏安装及电性连接 于该接口模块。

所述全高清液晶屏测试治具还包括一与所述微处理器电性连接的蜂鸣器, 所述步骤4中的报警提示为该蜂鸣器发出的报警提示音。

所述MIPI模块与待测液晶屏之间采用1至4通道通信。

所述步骤6的MIPI信号传输的方式为成对走线的方式;所述步骤6中待测液 晶屏根据MIPI信号依次显示黑、白、红、绿、蓝、灰阶、彩色图像。

所述步骤7为判断图像是否异常,无异常,则该待测液晶屏为合格;异常, 则该待测液晶屏为不合格。

所述全高清液晶屏测试治具还设有一与所述微处理器电性连接的中断开 关,当所述步骤7中图像异常时,通过该中断开关中断待测液晶屏上图像的转 换,以便对该异常画面进行分析。

所述步骤7中图像无异常,该微处理器发出该待测液晶屏合格的信号,所 述合格的信号为该待测液晶屏显示PASS画面及蜂鸣器发出合格提示音。

所述背光源驱动模块为CP2123芯片。

本发明的有益效果:本发明的MIPI接口全高清液晶屏的测试方法,通过 采用EP2C5Q208C8N芯片的测试模块来产生控制信号和RGB信号,并采用以 SSD2825芯片为主的MIPI模块将RGB信号转换为MIPI信号并传送给待测液晶 屏显示,直接写屏,传输速率高,可以很好地支持全高清液晶屏的测试,同 时使得液晶屏的测试简单方便快捷,满足需求,且MIPI信号的传输采用成对 走线方式,两根线从波形上看成反相,抗干扰能力强,应用该测试方法的全 高清液晶屏测试治具设计小巧精密,能耗低。

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容,请参阅以下有关本发明 的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限 制。

附图说明

下面结合附图,通过对本发明的具体实施方式详细描述,将使本发明的技 术方案及其它有益效果显而易见。

附图中,

图1为本发明MIPI接口全高清液晶屏的测试方法的流程图;

图2为本发明MIPI接口全高清液晶屏的测试方法中全高清液晶屏测试治 具的模块组成示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果,以下结合本发明的 优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图1及图2,本发明提供一种MIPI接口全高清液晶屏的测试方法,包 括以下步骤:

步骤1、提供全高清液晶屏测试治具,该全高清液晶屏测试治具20包括: 测试模块22、与该测试模块22电性连接的背光源驱动模块24、及与该测试模块 22电性连接的MIPI模块26,所述测试模块22包括微处理器222及与该微处理器 222电性连接的存储模块224,该存储模块224预先烧录有测试程序,所述MIPI 模块26包括液晶驱动模块262及信号转换模块264,该液晶驱动模块262及信号 转换模块264均电性连接至所述微处理器222,所述测试模块22采用 EP2C5Q208C8N芯片,所述MIPI模块26采用SSD2825芯片。

本方案中所述测试模块22采用EP2C5Q208C8N芯片,所述MIPI模块26采用 SSD2825芯片,可以很好地支持分辨率为1920×1080的液晶屏的测试,以满足 客户需求,及更好地适应市场的需求,该SSD2825芯片可以快速将RGB信号转 换为MIPI信号,数据转换速度快。且,所述MIPI模块26与待测液晶屏40之间 采用1-4通道通信,数据传输速度快。

所述全高清液晶屏测试治具20设有一USB接口27,该USB接口27与存储模 块224电性连接,所述测试程序通过该USB接口27烧录到测试模块22的存储模 块224中,进而可根据不同型号的产品及不同的测试要求,从而烧录不同的测 试程序,使得该全高清液晶屏测试治具20适用于多种产品,扩大了适用范围, 进而使得该全高清液晶屏测试治具20支持多种型号的全高清液晶屏,使得各种 型号的全高清液晶屏无需设置专门的测试治具,降低生产成本。

所述背光源驱动模块24采用CP2123芯片,通过该CP2123芯片驱动液晶屏 的背光源发光,进而使得液晶屏显示图像。

步骤2、提供一待测液晶屏40,将该待测液晶屏40与背光源驱动模块24及 MIPI模块26电性连接。

所述全高清液晶屏测试治具20还包括一接口模块28,所述接口模块28分别 与背光源驱动模块24、及MIPI模块26电性连接,测试时,所述待测液晶屏40 安装及电性连接于该接口模块28。

步骤3、接通该全高清液晶屏测试治具20的电源,该微处理器222运行测试 程序并对电性连接于该微处理器222的背光源驱动模块24、液晶驱动模块262 及信号转换模块264进行检测。

步骤4、若该微处理器222检测到背光源驱动模块24、液晶驱动模块262或 信号转换模块264异常,则发出报警提示,若该微处理器222检测到背光源驱动 模块24、液晶驱动模块262及信号转换模块264无异常,则对背光源驱动模块24、 液晶驱动模块262及信号转换模块264进行初始化。

所述全高清液晶屏测试治具20还包括一与所述微处理器222电性连接的蜂 鸣器29,所述报警提示为该蜂鸣器29发出的报警提示音。

所述微处理器222在检测到背光源驱动模块24、液晶驱动模块262或信号转 换模块264异常时,控制蜂鸣器29发出报警提示音,提示用户背光源驱动模块 24、液晶驱动模块262或信号转换模块264存在异常,这大大提高了该全高清液 晶屏测试治具20测试的准确度,避免了使用不良测试治具得出不准确的测试结 果,从而造成误判。

步骤5、所述微处理器222控制背光源驱动模块24驱动待测液晶屏40的背光 源(未图示)工作,液晶驱动模块262初始化该待测液晶屏40。

步骤6、所述微处理器222下发RGB信号至信号转换模块264,所述信号转 换模块264将该RGB信号转换为MIPI信号并传输给待测液晶屏40,该待测液晶 屏40根据该MIPI信号显示对应图像。

所述信号转换模块264将微处理器222传送过来的RGB信号转换为MIPI信 号,并将该MIPI信号通过成对走线的传输方式传输给待测液晶屏40,所述待测 液晶屏40根据该MIPI信号依次显示黑、白、红、绿、蓝、灰阶、彩色图像,所 述成对走线方式,即DOUT_N和DOUT_P成对走线,从波形上看两根线成反相, 这就增强了抗干扰能力,减少外部电磁波的干扰。

步骤7、根据图像判断该待测液晶屏40是否合格。

在本步骤中,判断待测液晶屏40是否合格具体为判断待测液晶屏40显示的 图像是否异常,无异常,则该待测液晶屏40为合格;异常,则该待测液晶屏40 为不合格。

所述全高清液晶屏测试治具20还设有一与所述微处理器222电性连接的中 断开关30。当图像异常时,通过该中断开关30可以中断待测液晶屏40上图像的 转换,以便对该异常画面进行分析;当图像无异常时,该微处理器222发出该 待测液晶屏合格的信号。具体的,所述合格的信号为该待测液晶屏222显示 PASS画面及蜂鸣器29发出合格提示音“滴”。为了将所述蜂鸣器29所发出的 报警提示音与合格提示音予以区别,可设置合格提示音为短音,而报警提示音 为长音。

值得一提的是,所述液晶驱动模块262使用MIPI DSI接口方式,通过配置 可伸缩的数据通道,该MIPI DSI接口可以实现3Gb/s的数据传输速率,数据传 输速度高,它使用低压摆幅差分信号,而且有非常低的输出信号电平;在测试 过程中,测试模块22中的微处理器222向MIPI模块26发送控制信号及RGB信 号,MIPI模块26中的信号转换模块264将RGB信号转换为MIPI信号传送给待测 液晶屏40显示,该方法集合了MCU模式与RGB模式的优点,使得应用该方法 的测试治具控制简单方便,无需时钟和同步信号,而且无需耗费GRAM,显示 数据无需写入DDRAM,直接写屏,数据传输速度快,能够很好地支持分辨率 1920×1080(全高清分辨率)的液晶屏的测试。

综上所述,本发明的MIPI接口全高清液晶屏的测试方法,通过采用 EP2C5Q208C8N芯片的测试模块来产生控制信号和RGB信号,并采用以 SSD2825芯片为主的MIPI模块将RGB信号转换为MIPI信号并传送给待测液晶 屏显示,直接写屏,传输速率高,可以很好地支持全高清液晶屏的测试,同 时使得液晶屏的测试简单方便快捷,满足需求,且MIPI信号的传输采用成对 走线方式,两根线从波形上看成反相,抗干扰能力强,应用该测试方法的全 高清液晶屏测试治具设计小巧精密,能耗低。

以上所述,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方 案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有这些改变和变形都应 属于本发明权利要求的保护范围。

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