显示装置的显示面板和检测显示装置的信号线的缺陷的方法

摘要

本发明涉及一种显示装置的显示面板，所述显示面板能够精确地确定相邻信号线是否为短路或开路，本发明还公开了检测信号线的缺陷的方法。所述显示面板包括基板，在所述基板上形成有传输像素所需的各种信号的多条信号线，并且任何两相邻信号线之一与主信号传输线中的至少一条相连，并且所述两相邻信号线中的另一条维持浮动状态。

说明书

相关申请的交叉引用

本申请主张享有2011年11月25日提交的韩国专利申请第10-2011- 0124437号和2012年4月27日提交的韩国专利申请第10-2012-0044758号 的权益，在此引用所述申请作参考，如同在此被完全公开。

技术领域

本发明涉及显示装置，更具体地，本发明涉及能精确地确定相邻信号 线是否短路和/或开路的显示装置的显示面板，以及检测显示装置的信号线 的缺陷的方法。

背景技术

诸如液晶显示器、等离子体显示器和发光显示器的显示装置通常在投 放市场前都经历若干检测步骤。

这些各种步骤包括检测诸如栅线和数据线的信号线短路和开路状况的 步骤。

然而，随着显示装置增大，信号线的数量与显示装置的尺寸成比例增 加，并因此信号线更加致密地形成在显示装置上。特别地，为了补偿驱动 开关元件的电流驱动能力，发光二极管显示装置需要大量的开关元件以及 提供给这些开关元件的各种驱动信号。由此，信号线之间的间隔不可避免 地减小。

因此，在传统显示装置中，由于相邻信号线之间的信号干扰，从相邻 信号线检测到的信号波形几乎都是相似的，因此会难以检测各信号线是否 短路和/或开路以及难以确定信号线的精确的短路和/或开路位置。

发明内容

本发明的实施例包括显示装置的显示面板，所述显示面板具有这样的 信号线结构，这种信号线结构使相邻信号线可具有不同的电连接方式，因 此增加相邻信号线之间的电阻差，并消除相邻信号线之间的信号干扰。有 益的是能够精确地确定各信号线是否短路以及各信号线是否开路。本发明 的实施例还包括检测具有此种结构的显示装置的信号线缺陷的方法。

本发明另外的优点、目的和特征的一部分在下面的描述中列出，一部 分对于阅读下述内容的本领域技术人员将是显而易见，或者可通过实施本 发明而知晓。本发明的目的以及其它优点可通过本说明书、权利要求书以 及附图中具体指出的结构来实现和获得。

在一个实施例中，显示装置的显示面板包括在基板上形成的传输控制 显示面板的像素所需的信号的信号线，所述信号线中的一些选定信号线与 多条主信号传输线之一相连，而所述信号线中的剩余信号线维持与选定信 号线不同的电状态，例如浮动状态。例如，信号线每隔一条可与主信号传 输线之一相连，而剩余信号线可维持浮动状态。

在一个实施例中，显示装置的显示面板包括基板，在所述基板上形成 有传输像素所需的各种信号的多条信号线，其中对于任何两相邻信号线， 所述两相邻信号线之一与至少一条主信号传输线相连，而所述两相邻信号 线中的另一条维持浮动状态。

所述多条信号线中的编号为2m-1或2m的信号线可维持浮动状态，除 了编号为2m-1或2m的信号线以外的剩余信号线可与主信号传输线相连， m是自然数。

所述主信号传输线和多条信号线可位于不同层，在不同层之间插入栅 绝缘层，除了编号为2m-1或2m的信号线以外的剩余信号线可通过穿过所 述栅绝缘层的接触孔与主信号传输线相连。

基板可分成将形成像素的显示区、将安装提供驱动像素的信号的驱动 集成电路的非显示区以及将形成多条短路条的短路条区。所述多条短路条 可与主信号传输线形成在同一层，而编号为2m-1或2m的信号线可通过多 条连接线分别与所述多条短路条相连。

所述多条连接线与多条信号线可位于不同层，在不同层之间插入钝化 层，并且所述多条连接线和多条短路条可形成在不同层，在不同层之间插 入所述栅绝缘层以及所述钝化层。所述多条连接线的一端可通过穿过所述 钝化层的多个接触孔与编号为2m-1或2m的信号线相连，而所述多条连接 线的另一端可通过穿过所述栅绝缘层和所述钝化层的多个接触孔与所述多 条短路条相连。

主信号传输线和所述多条短路条可由相同材料形成，所述多条信号线 可由相同材料形成，所述多条连接线可由相同材料形成，而所述主信号传 输线、多条信号线和多条连接线的材料可不同。

所述多条连接线可由氧化铟锡(ITO)或钼合金(MoX)形成。

主信号传输线可包括第一和第二主信号传输线，除了编号为2m-1或 2m的信号线以外的剩余信号线的一端可交替地与第一主信号传输线或第二 主信号传输线相连。

在本发明的另一方面，一种检测显示装置的信号线的缺陷的方法包 括：对于任何两相邻信号线，将两相邻信号线之一与至少一条主信号传输 线相连，并维持两相邻信号线中的另一条为浮动状态，将输入检测信号施 加到所述多条信号线的一端，以及通过分析从所述多条信号线的另一端输 出的输出检测信号的波形，来确定所述多条信号线是否短路以及所述多条 信号线是否开路。

所述多条信号线中的编号为2m-1或2m的信号线可维持浮动状态，除 了编号为2m-1或2m的信号线以外的剩余信号线可与主信号传输线相连， m是自然数。

所述主信号传输线和多条信号线可位于不同层，在不同层之间插入栅 绝缘层，并且除了编号为2m-1或2m的信号线以外的剩余信号线可通过穿 过所述栅绝缘层的接触孔与主信号传输线相连。

输入检测信号可为电压型输入检测信号。

通过将从所述多条信号线的另一端输出的输出检测信号的波形与第一 和第二参考电压相比较，进行对多条信号线是否短路以及多条信号线是否 开路的确定。第一参考电压可以是从处于多条信号线未短路或开路的正常 状态的编号为2m-1或2m的信号线检测到的输出检测信号的最大峰值电压 的平均值。第二参考电压可以是从除了编号为2m-1或2m的信号线以外的 处于多条信号线未短路或开路的正常状态的剩余信号线检测到的输出检测 信号的最小峰值电压的平均值。例如，正常状态下的信号线可被包括在与 所检测的显示面板不同的显示面板中，并且已知是没有缺陷的。

当从编号为2m-1或2m的信号线检测到的输出检测信号的最大峰值电 压和第一参考电压之间的差在预定范围内，就将相应的信号线确定为没有 缺陷。当从编号为2m-1或2m的信号线检测到的输出检测信号的最大峰值 电压和第一参考电压之间的差大于预定范围的最大值，就将相应的信号线 确定为开路。当从编号为2m-1或2m的信号线检测到的输出检测信号的最 大峰值电压和第一参考电压的差小于预定范围的最小值，就将相应的信号 线确定为短路。当从除了编号为2m-1或2m的信号线以外的一条信号线检 测到的输出检测信号的最小峰值电压和第二参考电压之间的差处于预定范 围内，就将相应的信号线确定为没有缺陷。当从除了编号为2m-1或2m的 信号线以外的信号线检测到的输出检测信号的最小峰值电压和第二参考电 压之间的差大于预定范围的最大值，就将相应的信号线确定为短路。当从 除了编号为2m-1或2m的信号线以外的信号线检测到的输出检测信号的最 小峰值电压和第二参考电压之间的差小于预定范围的最小值，就将相应的 信号线确定为开路。

所述方法可进一步包括将基板分成将形成像素的显示区、将安装提供 驱动像素的信号的驱动集成电路的非显示区以及将形成多条短路条的短路 条区，在与主信号传输线同一层上形成所述多条短路条，以及通过多条连 接线将编号为2m-1或2m的信号线分别与所述多条短路条相连。

所述多条连接线与多条信号线可位于不同层，在不同层之间插入钝化 层，并且所述多条连接线和多条短路条可形成于不同层，在不同层之间插 入所述栅绝缘层以及所述钝化层。所述多条连接线的一端可通过穿过钝化 层的多个接触孔与编号为2m-1或2m的信号线相连，而所述多条连接线的 另一端可通过穿过栅绝缘层和钝化层的多个接触孔与所述多条短路条相 连。

所述主信号传输线和多条短路条可由相同材料形成，所述多条信号线 可由相同材料形成，所述多条连接线可由相同材料形成，而所述主信号传 输线、多条信号线和多条连接线的材料可互不相同。

所述多条连接线可由氧化铟锡(ITO)或钼合金(MoX)形成。

主信号传输线可包括第一和第二主信号传输线，除了编号为2m-1或 2m的信号线以外的剩余信号线的一端可交替地与第一主信号传输线或第二 主信号传输线相连。

所述方法可进一步包括通过将电流型输入检测信号施加到多条信号线 的端部，来确定所述多条信号线是否短路或开路，以及基于根据电流型输 入检测信号和电压型输入检测信号对多条信号线是否短路或开路的判断， 来最后确定所述多条信号线是否短路或开路。

应理解，前面的概括描述和下面的详细描述都是示范性和说明性的， 并且旨在提供对所要求保护的本发明的进一步说明。

附图说明

附图提供对本发明的进一步理解并且并入本申请中而组成本申请的一 部分，附图图示本发明的实施例，并且与说明书文字一起用来解释本发明 的原理。在附图中：

图1示出根据本发明第一实施例的显示装置的显示面板；

图2示出在信号线的开路和短路检测步骤后的显示面板的结构；

图3是图2的A部分的截面图；

图4是图2的B部分的截面图；

图5示出图1的显示面板的一个像素的结构；

图6A-6C示出根据本发明实施例的检测显示装置的信号线的缺陷的方 法；

图7示出一些信号线为短路和/或开路时的输出检测信号的波形；

图8示出根据本发明第二实施例的显示装置的显示面板；

图9示出在信号线的短路和开路检测步骤后的显示面板的结构；

图10A和10B示出将数据驱动器连接到根据本发明第一实施例的显示 面板的步骤；以及

图11A和11B示出将数据驱动器连接到根据本发明第二实施例的显示 面板的步骤。

具体实施方式

现在将详细描述本发明的优选实施例，这些实施例的实例于附图中示 出。尽可能地，在所有附图中使用相同的附图标记来表示相同或相似的部 件。

图1示出根据本发明第一实施例的显示装置的显示面板。

如图1所示，根据本发明第一实施例的显示装置的显示面板包括基板 100，在基板100上形成有用于传输像素所需的各种信号的多条信号线 SL。

基板100分成显示区101、非显示区102以及短路条区103。图1示出 的基板100是显示面板的两基板中的下基板，并且图1没有示出上基板。 在最终检测后从基板100除去短路条区103。例如，通过沿着图1的刻划 线SCL切割基板100而从基板100除去短路条区103。

如上所述，像素和信号线SL形成在显示区101中。还有，在显示区 101中形成有第一和第二主信号传输线MSL1和MSL2。或者，第一和第二 主信号传输线MSL1和MSL2可形成在非显示区102中而不是在显示区 101中。

非显示区102是安装将信号传输到所述多条信号线SL以及主信号传输 线MSL1和MSL2的驱动集成电路的区域，在完成了对信号线SL的所有 检测步骤后安装驱动集成电路。

在短路条区103中形成有多条短路条SB。短路条SB将信号线SL以 及主信号传输线MSL1和MSL2产生的静电向外放电，由此防止像素中形 成的薄膜晶体管受损。此外，短路条SB向像素提供用来检测像素缺陷的 多种检测信号。

图1所示的结构是设计用来检测信号线SL是否短路以及信号线SL是 否开路。为此，任何两相邻信号线SL中的一条信号线SL与主信号传输线 MSL1和MSL2相连，而另一条信号线SL维持在其不与任何线路相连的浮 动状态。

就是说，多条信号线SL中的编号为2m-1或2m的信号线SL维持浮动 状态，而除了编号为2m-1或2m的信号线SL以外的剩余信号线SL与第一 主信号传输线MSL1和第二主信号传输线MSL2之一相连，m是自然数。 例如，如图1所示，多条信号线SL中的奇数信号线SL不与任何线路相连 而维持浮动状态，而偶数信号线SL的一端交替地与第一主信号传输线 MSL1或第二主信号传输线MSL2相连。

第一和第二主信号传输线MSL1和MSL2以及短路条SB可由通常用 于制造栅线的金属材料形成。例如，第一和第二主信号传输线MSL1和 MSL2以及短路条SB可由铝合金和包括铝的双金属层之一形成。

信号线SL可由通常用于制造数据线的金属材料形成。例如，信号线 SL可由抗化学腐蚀性高且机械强度高的金属形成，即钼(Mo)、铬 (Cr)、钨(W)以及镍(Ni)之一。

通过一次构图工艺在同一层中用相同的金属材料形成第一和第二主信 号传输线MSL1和MSL2以及短路条SB。

通过一次构图工艺在同一层中用相同的金属材料形成信号线SL。

第一和第二主信号传输线MSL1和MSL2与信号线SL位于不同层 中，在不同层之间插入栅绝缘层。

多条信号线SL中的编号为2m-1或2m的信号线SL(例如，奇数信号 线SL)不与第一和第二主信号传输线MSL1和MSL2相连。即处于浮动状 态的编号为2m-1或2m的信号线SL形成在栅绝缘层上，并且与第一和第 二主信号传输线MSL1和MSL2交叉。另一方面，除了所述编号为2m-1或 2m的信号线以外的剩余信号线SL(例如，偶数信号线SL)通过穿过栅绝 缘层的接触孔与第一主信号传输线MSL1和第二主信号传输线MSL2之一 相连。

由于此种结构，在本发明，即使所述多条信号线彼此非常邻近，也能 够精确地检测各信号线SL的每一条是否短路和/或开路。即由于相邻信号 线SL具有不同的电连接方式，因此相邻信号线SL具有不同的电阻。即由 于处于浮动状态的信号线SL的电阻与连接到一条主信号传输线的信号线 SL的电阻不同，当将具有相同数值的输入检测信号施加至相邻信号线SL 的每一条的一端时，则从相邻信号线SL的另一端检测到的输出检测信号 明显不同。因此，即使由于相邻信号线SL之间的信号干扰而产生噪声， 两输出检测信号之间仍有很大的不同，因此可精确地检测来自各信号线SL 的输出检测信号。于是，根据本发明的实施例，通过单独分析从各信号线 SL检测到的输出检测信号的数值，能够精确地确定各信号线SL是否短路 和/或开路。

图2示出在信号线的开路和短路检测步骤后的显示面板的结构。

通过对在图1所示显示面板的结构中的信号线SL的短路和开路检测步 骤确定各信号线SL没有缺陷后，执行检测各像素是否有缺陷的步骤。为 了执行所述步骤，需要向处于浮动状态的信号线SL供给检测信号。为此 目的，在所述步骤前需要在短路条SB和处于浮动状态的信号线SL之间进 行电连接，如图2所示。

如图2所示，通过多条连接线CNL将处于浮动状态的信号线SL与多 条短路条SB电连接。

连接线CNL可由氧化铟锡(ITO)和钼合金(MoX)之一形成。

多条连接线CNL和处于浮动状态的多条信号线SL位于不同层中，在 不同层之间插有钝化层。此外，连接线CNL和短路条SB位于不同层中， 在不同层之间插有所述栅绝缘层和所述钝化层。

多条连接线CNL的一端通过穿过钝化层的多个接触孔与处于浮动状态 的信号线SL相连。此外，多条连接线CNL的另一端通过穿过栅绝缘层和 钝化层的多个接触孔与多条短路条SB相连。

下文将详细描述主信号传输线和信号线SL之间的连接关系以及短路 条SB和信号线SL之间的连接关系。

图3是图2的A部分的截面图，即沿图2的线I-I’截取的截面图。

如图3所示，在基板100上形成有由也用于制造栅线的金属材料形成 的第一主信号传输线MSL1。在第一主信号传输线MSL1上形成有栅绝缘 层GI。在栅绝缘层GI上形成有由也用于制造数据线的金属材料形成的信 号线SL。在此，在栅绝缘层GI中形成有穿过栅绝缘层GI的接触孔。接触 孔暴露在栅绝缘层GI下面的第一主信号传输线MSL1的一部分。信号线 SL通过接触孔与位于信号线SL下的第一主信号传输线MSL1电连接。此 外，在第一主信号传输线MSL1和栅绝缘层GI上形成有钝化层PAS。

图4是图2的B部分的截面图，即沿着图2的线II-II’截取的截面图。

如图4所示，在基板100上形成由也用于制造栅线的金属材料形成的 短路条SB。在短路条SB上形成有栅绝缘层GI。在栅绝缘层GI上形成由 也用于制造数据线的金属材料形成的信号线SL。在信号线SL和栅绝缘层 GI上形成有钝化层PAS。在钝化层PAS上形成有连接线CNL。在此，在 钝化层PAS中形成有穿过钝化层PAS的第一接触孔。这样的接触孔暴露在 钝化层PAS下面的信号线的一部分。另外，在栅绝缘层GI和钝化层PAS 处形成有顺序穿过栅绝缘层GI和钝化层PAS的第二接触孔。这样的接触 孔暴露在栅绝缘层GI下面的短路条SB的一部分。连接线CNL的一端通 过第一接触孔与在连接线CNL下面的信号线SL电连接，而连接线CNL的 另一端通过第二连接孔与在连接线CNL下面的短路条SB电连接。因此， 处于浮动状态的信号线SL与短路条SB通过连接线CNL彼此电连接。

图4所示的截面结构是用于在信号线的短路和开路检测步骤后，检测 像素是否有缺陷的步骤的结构，因此，图4的连接线CNL在信号线的短路 和开路检测过程期间并未形成。在信号线SL的短路和开路检测过程期 间，可省略接触孔以及上述连接线CNL。就是说，可在信号线SL的短路 和开路检测步骤之前形成第一主信号传输线MSL1、第二主信号传输线 MSL2、短路条SB、栅绝缘层GI和钝化层PAS，并且可在完成了信号线 SL的短路和开路检测步骤后形成上述接触孔(图4)和连接线CNL。

根据另一实施例，可在信号线SL的短路和开路检测步骤之前形成第 一主信号传输线MSL1、第二主信号传输线MSL2、短路条SB、栅绝缘层 GI和信号线SL。在这样的结构上实施信号线SL的短路和开路检测步骤， 然后在完成了信号线SL的短路和开路检测步骤后形成钝化层PAS、接触 孔(图4)和连接线CNL。

图5示出图1的一个像素的结构。

图1的基板100可以是发光二极管显示装置的基板100。在此，如图5 所示，一个像素可包括数据开关元件Tr_DS、驱动开关元件Tr_DR、发光 二极管OLED和存储电容器Cst。

数据开关元件Tr_DS受来自栅线GL的栅信号所控，并且连接在驱动 开关元件Tr_DR的栅电极和数据线DL之间。

驱动开关元件Tr_DR受来自数据开关元件Tr_DS的数据信号所控，并 且连接在发光二极管OLED的阴极和第二驱动线VSL之间。第二驱动线 VSL连接到传输第二驱动电压VSS的第二主驱动线MVSL。

发光二极管OLED连接在驱动开关元件Tr_DR的漏电极和第一驱动线 VDL之间。在此，第一驱动线VDL连接到传输第一驱动电压VDD的第一 主驱动线MVDL。

存储电容器Cst连接在驱动开关元件Tr_DR的源电极和栅电极之间。

在此，上述图1的信号线SL可包括数据线DL、第一驱动线VDL和 第二驱动线VSL。例如，数据线DL对应于图1中处于浮动状态的信号线 SL，第一主驱动线MVDL对应于图1的第一主信号传输线MSL1，第二主 驱动线MVSL对应于图1的第二主信号传输线MSL2，第一驱动线VDL对 应于图1中连接到第一主信号传输线MSL1的信号线SL，以及第二驱动线 VSL对应于连接到第二主信号传输线MSL2的信号线SL。

下文将描述根据本发明实施例的检测显示装置的信号线SL的缺陷 (短路和开路)的方法。

图6A-6C示出根据本发明的检测显示装置的信号线SL的缺陷的方 法。图6B是沿图6A的线III-III’截取的截面图，以及图6C是沿图6A的线 IV-IV’截取的截面图。

首先，如图6A所示，在图1的基板100的上表面上放置线路检测设 备600。如图6A所示，线路检测设备600包括输入检测信号输出单元601 和输出检测信号检测单元602。输入检测信号输出单元601位于信号线SL 的一端的上表面之上，而输出检测信号检测单元602位于信号线SL的另一 端的上表面之上。在此，如图6B-6C所示，输入检测信号输出单元601和 输出检测信号检测单元602并不直接接触信号线SL，而是与信号线SL相 距指定间隔的距离。

如图6C所示，将从输入检测信号输出单元601输出的输入检测信号施 加到信号线SL的端部。然后，由于输入检测信号施加到信号线SL的端 部，就从各信号线SL的另一端产生输出检测信号OIS。用输出检测信号检 测单元602来检测从信号线SL的另一端产生的输出检测信号OIS。

图6A示出当信号线SL都没有缺陷，即当信号线SL都没有短路或开 路时，由输出检测信号检测单元602所检测到的输出检测信号OIS。在 此，从处于浮动状态的信号线SL检测到的输出检测信号OIS，例如从奇数 信号线SL检测到的输出检测信号OIS具有相对高的峰值电压。另一方 面，从与第一主信号传输线MSL1和第二主信号传输线MSL2相连的信号 线SL检测到的输出检测信号OIS，例如从偶数信号线SL检测到的输出检 测信号OIS具有相对低的峰值电压。原因是处于浮动状态的奇数信号线SL 的电阻比偶数信号线SL的电阻高。因此，当信号线SL都没有缺陷时，从 各信号线SL检测到的输出检测信号OIS形成具有相同振幅的正弦波，如 图6A所示。

图7示出当一些信号线SL为短路或开路时，输出检测信号OIS的波 形。

如图7所示，当一些信号线SL短路或开路时，从各信号线SL检测到 的输出检测信号OIS形成与图6A所示正弦波不同的正弦波。图7所示的 正弦波具有与短路或开路的信号线SL对应的不同振幅。例如，当将图7的 所有信号线SL从左至右顺序定义为第一至第十一信号线SL1-SL11时，从 短路的第一和第二信号线SL1和SL2输出的输出检测信号OIS的峰值电压 比从正常状态的信号线输出的峰值电压的值低。原因是第一和第二信号线 SL1和SL2短路，因此第一和第二信号线SL1和SL2的电阻相对减小。相 反，从开路的第五和第八信号线SL5和SL8输出的输出检测信号OIS的峰 值电压比从正常状态的信号线输出的峰值电压的值高。原因是第五和第八 信号线SL5和SL8开路，因此第五和第八信号线SL5和SL8的电阻相对增 加。

根据本发明的实施例，如图6A所示，可基于来自正常状态的各信号 线SL的输出检测信号来设定第一和第二参考电压。例如，在与被检测的 显示面板不同的显示面板中可包括处于正常状态的信号线，并且已知这些 信号线没有缺陷。可计算从图6A的奇数信号线SL检测到的输出检测信号 OIS的最大峰值电压的平均值，并且可将计算出的最大峰值电压的平均值 设定为第一参考电压。此外，可计算从图6A的偶数信号线SL检测到的输 出检测信号OIS的最小峰值电压的平均值，并且可将计算出的最小峰值电 压的平均值设定为第二参考电压。当从奇数信号线SL中的一条检测到的 输出检测信号的最大峰值电压和第一参考电压之间的差在预定范围内时， 确定相应的信号线SL是没有缺陷的。而且，当从奇数信号线SL中的一条 检测到的输出检测信号的最大峰值电压与第一参考电压之间的差与所述预 定范围的最大值或所述预定范围的最小值相同时，确定相应的信号线SL 是没有缺陷的。另一方面，当从奇数信号线SL中的一条检测到的输出检 测信号的最大峰值电压与第一参考电压之间的差大于所述预定范围的最大 值时，确定相应的信号线SL是开路。另外，当从奇数信号线SL检测到的 输出检测信号的最大峰值电压与第一参考电压之间的差小于所述预定范围 的最小值时，确定相应的信号线SL是短路。

以相同的方式，当从偶数信号线SL中的一条检测到的输出检测信号 的最小峰值电压和第二参考电压之间的差在预定范围内时，确定相应的信 号线SL是没有缺陷的。而且，当从偶数信号线SL中的一条检测到的输出 检测信号的最小峰值电压与第二参考电压之间的差与所述预定范围的最大 值或所述预定范围的最小值相同时，确定相应的信号线SL是没有缺陷 的。另一方面，当从偶数信号线SL中的一条检测到的输出检测信号的最 小峰值电压与第二参考电压之间的差大于所述预定范围的最大值时，确定 相应的信号线SL是短路。另外，当从偶数信号线SL中的一条检测到的输 出检测信号的最小峰值电压与第二参考电压之间的差小于所述预定范围的 最小值时，确定相应的信号线SL是开路。

这种确定可由输出检测信号检测单元602来进行，结果可显示在另外 的显示器/监视器上。

来自上述输入检测信号输出单元601的输入检测信号可为电压信号或 电流信号。图6A和图7是当输入检测信号为电压信号时的视图。然而， 即使使用电流型输入检测信号，从各信号线SL检测到的输出检测信号OIS 也可具有与图6A和图7所示波形相似的波形。

根据本发明的替代的实施例，输入检测信号输出单元601可输出电压 型输入检测信号和电流型输入检测信号。包括此种输入检测信号输出单元 601的线路检测设备600可首先将电压型输入检测信号施加到信号线SL， 以确定信号线SL是否短路和/或开路，然后将电流型输入检测信号施加到 信号线SL，以确定信号线SL是否短路和/或开路。在此情形下，可基于两 次判断的结果来最终确定信号线SL是否短路和/或开路。即输出检测信号 检测单元602将两次判断的结果相互比较，并告知操作者被确定为处于相 同诊断状态(开路状态、短路状态或正常状态)的信号线SL以及被确定 为处于不同诊断状态的信号线SL。通过两次判断，可增强检测的准确性和 效率。

如果基板100的面积大于可被线路检测设备100检测的面积，那么可 将基板100的面积分成多个区域，并将线路检测设备600传送到分开的区 域，并在分开的区域上执行检测，以检测信号线SL是否是有缺陷的。

图8示出根据本发明第二实施例的显示装置的显示面板。

如图8所示，根据本发明第二实施例的显示装置的显示面板包括基板 100，在基板100上形成有用于传输像素所需的各种信号的多条信号线 SL。

基板100分成显示区101、非显示区102、第一短路条区103和第二短 路条区104。图8所示基板100是显示面板的两基板中的下基板，并且图8 没有示出上基板。

如上所述，像素和信号线SL形成在显示区101中。还有，在显示区 101中形成有第一至第四主信号传输线MSL1至MSL4。或者，第一至第四 主信号传输线MSL1至MSL4可形成在非显示区102中而不是在显示区 101中。

非显示区102是安装将信号传输到多条信号线SL和主信号传输线 MSL1至MSL4的驱动集成电路的区域，在完成了对信号线SL的所有检测 步骤后安装驱动集成电路。

在第一短路条区103中形成有多条第一短路条SB1。第一短路条SB1 将由信号线SL以及主信号传输线MSL1至MSL4产生的静电放电到外 部，由此防止像素区中形成的薄膜晶体管受损。另外，第一短路条SB1向 像素提供用来检测像素缺陷的多种检测信号。在最终检测后从基板100除 去第一短路条区103。例如，通过沿着图8的第一刻划线SCL1切割基板 100而从基板100除去第一短路条区103。

在第二短路条区104中形成有多个第二短路条SB2。第二短路条SB2 将由信号线SL以及主信号传输线MSL1至MSL4产生的静电放电到外 部，由此防止像素区中形成的薄膜晶体管受损。另外，第二短路条SB2向 像素提供用来检测像素缺陷的多种检测信号。在最终检测后从基板100除 去第二短路条区104。例如，通过沿着图8的第二刻划线SCL2切割基板 100而从基板100除去第二短路条区104。

图8所示的结构是设计用来检测信号线SL是否短路和/或开路。为 此，将任何两相邻信号线SL中的一条信号线SL与主信号传输线MSL1至 MSL4中的两条相连，而将另一条信号线SL维持在其不与任何线路相连的 浮动状态。

就是说，多条信号线SL中的编号为2m-1或2m的信号线SL维持浮动 状态，而除了编号为2m-1或2m的信号线SL以外的剩余信号线SL与第一 和第三主信号传输线MSL1和MSL3相连或者与第二和第四主信号传输线 MSL2和MSL4相连，m是自然数。例如，如图8所示，多条信号线SL中 的奇数信号线SL不与任何线路相连而维持浮动状态，而偶数信号线SL的 一端交替地与第一或第二主信号传输线MSL1和MSL2相连，而所述偶数 信号线SL的另一端交替地与第三或第四主信号传输线MSL3和MSL4相 连。

第一至第四主信号传输线MSL1至MSL4以及第一和第二短路条SB1 和SB2可由通常用于制造栅线的金属材料形成。所述金属材料与第一实施 例的金属材料相同。

信号线SL可由通常用于制造数据线的金属材料形成。所述金属材料 与第一实施例的金属材料相同。

通过一次构图工艺在同一层中用相同的金属材料形成第一至第四主信 号传输线MSL1至MSL4以及第一和第二短路条SB1和SB2。

通过一次构图工艺在同一层中用相同的金属材料形成信号线SL。

第一至第四主信号传输线MSL1至MSL4和信号线SL位于不同层 中。在此，在第一至第四主信号传输线MSL1至MSL4和信号线SL之间 插入有栅绝缘层GI。

多条信号线SL中的编号为2m-1或2m的信号线SL(例如，奇数信号 线SL)不与第一至第四主信号传输线MSL1至MSL4相连。即处于浮动状 态的编号为2m-1或2m的信号线SL形成在栅绝缘层上，并且与第一至第 四主信号传输线MSL1至MSL4交叉。另一方面，除了所述编号为2m-1或 2m的信号线以外的剩余信号线SL(例如，偶数信号线SL)通过穿过栅绝 缘层GI的接触孔与第一和第三主信号传输线MSL1和MSL3相连，或者与 第二和第四主信号传输线MSL2和MSL4相连。

由于此种结构，在本发明中，即使所述多条信号线彼此非常邻近，也 能够精确地检测各信号线SL的每一条是否短路和/或开路。即由于相邻信 号线SL具有不同的电连接方式，因此相邻信号线SL具有不同的电阻。即 由于处于浮动状态的信号线SL的电阻与连接到一条主信号传输线的信号 线SL的电阻不同，当将具有相同数值的输入检测信号施加至相邻信号线 SL的每一条的一端时，则从相邻信号线SL的另一端检测到的输出检测信 号明显不同。因此，即使由于相邻信号线SL之间的信号干扰而产生噪 声，两输出检测信号OIS之间仍有很大的不同，因此可精确地检测来自各 信号线SL的输出检测信号OIS。于是，在本发明中，通过单独分析从各信 号线SL检测到的输出检测信号OIS的数值，能够精确地判断各信号线SL 是否短路和/或开路。

图9示出在信号线的短路和开路检测步骤后的显示面板的结构。

通过对在图8所示显示面板的结构中的各信号线SL进行短路和开路检 测步骤确定各信号线SL没有缺陷后，执行检测各像素是否有缺陷的步 骤。为了执行此步骤，需要向处于浮动状态的信号线SL供给检测信号。 为此目的，在此步骤前需要在第一及第二短路条SB1和SB2和处于浮动状 态的信号线SL之间进行电连接，如图9所示。

如图9所示，通过第一及第二连接线CNL1和CNL2将处于浮动状态 的信号线SL与第一及第二短路条SB1和SB2电连接。

第一及第二连接线CNL1和CNL2可由氧化铟锡(ITO)和钼合金 (MoX)之一形成。

第一及第二连接线CNL1和CNL2与处于浮动状态的信号线SL位于不 同层中，在不同层之间插有钝化层。此外，第一及第二连接线CNL1和 CNL2与第一及第二短路条SB1和SB2位于不同层中，在不同层之间插有 所述栅绝缘层和所述钝化层。

第一连接线CNL1的一端通过穿过钝化层的多个接触孔与处于浮动状 态的信号线SL相连。此外，第一连接线CNL1的另一端通过穿过栅绝缘层 和钝化层的多个接触孔与第一短路条SB1相连。

第二连接线CNL2的一端通过穿过钝化层的多个接触孔与处于浮动状 态的信号线SL相连。此外，第二连接线CNL2的另一端通过穿过栅绝缘层 和钝化层的多个接触孔与第二短路条SB2相连。

在本发明的第二实施例中，在最终的检测后，第一主信号传输线 MSL1和第三主信号传输线MSL3传输相同的电压，即第一驱动电压。以 相同的方式，第二主信号传输线MSL2和第四主信号传输线MSL4传输相 同的电压，即第二驱动电压VSS。

以与本发明第一实施例相同的方式来检测本发明第二实施例的显示装 置的显示面板。

在通过完成检测像素是否有缺陷的步骤来确定显示面板没有异常后， 如图2所示，执行将数据驱动器连接到显示面板的后续步骤。这将参照附 图来详细说明。

图10A和图10B示出将数据驱动器连接到根据本发明第一实施例的显 示面板的步骤。

首先，如图10A所示，沿着刻划线SCL切割基板100。然后，将基板 100沿着刻划线SCL分成两部分。在此，位于与刻划线SCL交叉处的部分 连接线CNL被切断。从两部分的基板100中丢弃形成了短路条SB的那部 分基板100，并且只将形成了显示区101的那部分基板100用于后续步 骤。

此后，如图10B所示，将数据驱动器DD连接到基板100的形成有显 示区101的切割部分。可按照载带封装(TCP)形式来将数据驱动器DD 连接到基板100。在此，数据驱动器DD的输出端OT分别与基板100的切 割部分中剩余的连接线CNL相连。由此，数据驱动器DD和处于浮动状态 的信号线SL通过连接线CNL而彼此相连。在此，处于浮动状态的信号线 SL是向像素传输数据信号的数据线。

如上所述，连接线CNL和信号线SL位于不同层中，在不同层之间插 有钝化膜PAS。结果，各连接线CNL的一端通过穿过钝化膜PAS的各接 触孔与处于浮动状态的各信号线SL的一端电连接。进一步地，各连接线 CNL的另一端与各输出端OT电连接。

还有，如上所述，信号线SL和连接线CNL由不同材料形成。

可同样通过图10A和图10B所示的步骤将数据驱动器连接到图9的显 示面板。这将参照附图详细说明。

图11A和图11B示出将数据驱动器连接到根据本发明第二实施例的显 示面板的步骤。

首先，如图11A所示，沿着第一及第二刻划线SCL1和SCL2切割基 板100。然后，将基板100沿着第一及第二刻划线SCL1和SCL2分成三部 分。在此，位于与第一刻划线SCL1交叉处的部分第一连接线CNL1被切 断。并且位于与第二刻划线SCL2交叉处的部分第二刻划线SCL2部分被切 断。从三部分的基板100中丢弃形成了第一及第二短路条SB1和SB2的那 些部分基板100，并且只将形成了显示区101的那部分基板100用于后续 步骤。

此后，如图11B所示，将数据驱动器DD附接到基板100的形成有显 示区101的切割部分。可按照载带封装(TCP)形式来将数据驱动器DD 连接到基板100。在此，数据驱动器DD的输出端OT分别与基板100的切 割部分中剩余的第一连接线CNL1相连。由此，数据驱动器DD以及处于 浮动状态的信号线SL通过第一连接线CNL1而彼此相连。在此，处于浮动 状态的信号线SL是向像素传送数据信号的数据线。

如上所述，第一连接线CNL1和信号线SL位于不同层中，在不同层之 间插有钝化膜PAS。结果，各第一连接线CNL1的一端通过穿过钝化膜 PAS的各接触孔与处于浮动状态的各信号线SL的一端电连接。进一步 地，各第一连接线CNL1的另一端与各输出端OT电连接。

此外，如上所述，信号线SL和第一连接线CNL1由不同材料形成。

还有，第二连接线CNL2和信号线SL位于不同层中，在不同层之间插 有钝化膜PAS。结果，各第二连接线CNL2的一端与处于浮动状态的各信 号线SL的另一端通过穿过钝化膜PAS的各接触孔而电连接。

再有，如上所述，信号线SL和第二连接线CNL2由不同材料形成。

从上面的说明中显而易见的是，根据本发明的显示装置的显示面板和 检测显示装置的信号线的缺陷的方法具有下面的益处。

在本发明的显示装置的显示面板的信号线中的奇数信号线处于浮动状 态，而偶数信号线与主信号传输线相连。因此，相邻的信号线具有不同的 电阻。因此，在本发明中，即使多条信号线彼此非常邻近，当将具有相同 数值的输入检测信号施加至各相邻信号线的一端时，从相邻信号线的另一 端检测到的输出检测信号明显不同。因此，即使由于相邻信号线之间的信 号干扰而产生噪声，两输出检测信号之间仍有很大的不同，因此可精确地 检测来自各信号线的输出检测信号。于是，在本发明中，通过单独分析从 各信号线检测到的输出检测信号的数值，可精确地确定各信号线SL是否 短路和/或开路。

对于本领域的技术人员来说，很显然，本发明可以进行各种修改和变 化而不偏离本发明的精神和范围。由此，只要对本发明的修改和变化在所 附权利要求及其等效范围内，那么本发明就旨在涵盖它们。