一种材料表面漫反射特性的测量装置

摘要

本发明公开了一种基于环形光电探测器阵列用于测量材料表面漫反射特征的测量装置，包括准直光源、旋转台、若干只光电探测器和信号记录设备，若干只光电探测器布置在一只圆环固定架的架体上，起始测量线和终止测量线之间的夹角为270°；准直光源设置在圆环固定架的架体上，出射光方向正对圆环固定架的圆心，且出射光方向与起始测量线之间的夹角为90°；旋转台设置在圆环固定架的中部，并可带动待测量材料绕旋转台转动角度。该装置具有结构紧凑，可靠性高、使用方便、对光源的稳定性要求不高等特点。