公开/公告号CN110376227A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-10-25
原文格式PDF
申请/专利权人 同方威视技术股份有限公司;
申请/专利号CN201910508771.4
申请日2014-09-26
分类号
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人胡良均
地址 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
入库时间 2024-02-19 14:44:26
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-11-19
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/05 申请日:20140926
实质审查的生效
2019-10-25
公开
公开
机译: 使用光中子透射对物体进行成像的方法以及使用该方法对探测器阵列进行成像的方法
机译: 使用光中子透射对物体进行成像的方法以及使用该方法的探测器阵列
机译: 利用光中子透射对物体成像的方法和探测器阵列