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一种微波材料电磁参数测量仪器及测量方法

摘要

本发明公开了一种微波材料电磁参数测量仪器及测量方法。该测量仪器包括:激光加热装置、温度检测与控制装置、环境控制装置、微带线测试装置、矢量网络分析仪以及控制系统。本发明通过在传统微带线测试装置基础上增加激光加热系统、温度检测和控制单元以及环境控制装置,获取待测微波材料在试验温度和试验频率范围的电磁参数。该测量仪器可以控制合适的激光器功率,实现梯度式升温,同时具有保温效果,当温度达到设定温度时,可以启动保温程序,使当前测试条件稳定在需要温度条件下,使用保温以及梯度式加热方式,防止因为快速加热而造成的待测微波材料受热不均,突然炸裂。

著录项

  • 公开/公告号CN109782201A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宴晶科技(北京)有限公司;

    申请/专利号CN201910110689.6

  • 发明设计人 唐章宏;王佩佩;王群;廖丽;

    申请日2019-02-12

  • 分类号G01R33/12(20060101);G01N27/72(20060101);G01N1/44(20060101);

  • 代理机构11569 北京高沃律师事务所;

  • 代理人杜阳阳

  • 地址 100000 北京市大兴区北京经济技术开发区中和街14号2幢2层A2032号

  • 入库时间 2024-02-19 10:28:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/12 申请日:20190212

    实质审查的生效

  • 2019-05-21

    公开

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