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基于KB镜的同步辐射共聚焦荧光实验装置的仪器校准方法

摘要

本发明涉及一种基于KB镜的同步辐射共聚焦荧光实验装置的仪器校准方法,其包括:将显微镜组件与KB镜的焦点重合;将标样调整至KB镜的焦点上;将荧光探测器直接对准标样;对标样进行荧光二维成像;将毛细管安装在荧光探测器的前端;矫正摆角电机和俯仰电机的位置,直至毛细管的主光轴与第三Y方向电机的运动方向完全平行;使第三X方向电机和第三Z方向电机分别运动到荧光信号强度峰值的位置上;以及扫描第三Y方向电机,得到荧光信号强度与第三Y方向电机位置的关系曲线,并根据该关系曲线,使第三Y方向电机运动到荧光信号强度峰值的位置上。本发明针对小尺寸的共聚焦微元,在专门设计的标样的辅助下,提高仪器的校准精度。

著录项

  • 公开/公告号CN109839399A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海应用物理研究所;

    申请/专利号CN201910062763.1

  • 申请日2019-01-23

  • 分类号G01N23/223(20060101);G01N23/04(20180101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪;杨希

  • 地址 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号

  • 入库时间 2024-02-19 10:10:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20190123

    实质审查的生效

  • 2019-06-04

    公开

    公开

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