Semiconductor devices; Extraterrestrial radiation; Heavy ions; Ion irradiation; Ionizing radiation; Single event upsets; Radiation dosage; Aerospace environments;
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机译:微电子器件和集成电路的辐射硬度保证测试:质子和重离子单事件效应的测试指南
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机译:微观研究有机半导体中电荷的命运:扫描开尔文探针测量p型和n型器件中的电荷俘获,传输和电场
机译:进行道路驾驶测试以及测量横向位置标准偏差(SDLP)的标准操作程序
机译:基于超短脉冲激光局部辐照的航天器电子器件仅激光单事件效应试验方法