Auger Electron Spectroscopy; Electron Diffraction; Ion Scattering Analysis; Photoelectron Spectroscopy; Computer Calculations; Least Square Fit; Spectra Unfolding;
机译:通过表面分析技术定量测定光谱中已知成分的强度
机译:利用散射强度的光谱相关性和人工神经网络技术确定表面粗糙度
机译:采用光谱减法技术对高度不同浓度的药物组分的量分析
机译:剪切实验技术确定尖角应力强度因子及数值和解析解的比较
机译:1.4微米水分子光谱和红外光谱中强度测定的方面
机译:使用表面技术对CIGS吸收层的定量分析和带隙测定
机译:用于确定光学元件的均方根粗糙度和功率谱密度的表面表征技术
机译:用定量视觉技术确定弹性柔顺表面的阻力变化