Spectroscopy; Surface waves; Electroacoustics; Scanning; Signal processing; Surface properties; Fourier analysis; Reprints;
机译:高电阻率砷化镓的横向声电压(TAV)光谱
机译:使用横向声电电压与电压测量的半导体表面表征
机译:深阱水平对横向声电电压测量的影响
机译:使用横向声电电压测量确定表面陷阱能级密度的新改进程序
机译:混合尺寸INAS / GAAS系统宽带超快光谱=混合尺寸INAS / GAAS系统的宽带超快光谱
机译:InAs量子阱中平面内横向电流感应的与螺旋度有关的光电流
机译:电容 - 电压和光致发光光谱探测INAS / GAAs量子点的带结构
机译:用双光束横向声电压光谱研究高电阻率Gaas表面和Gaas / Oxide界面