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What's New in Atomic Force Microscopy of Polymers? An Update

机译:聚合物原子力显微镜有何新进展?更新

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摘要

In the past 20 years the atomic force microscope has evolved into a powerful tool for the nanoscale investigation of polymeric materials and single macromolecules. Applications are widespread, ranging from single molecule imaging, structural studies, and physical property mapping, to mechano-chemistry and unfolding studies of individual macromolecules. Strikingly, the AFM allows unprecedented spatial resolution of <10 nm with single molecule force sensitivity making it a unique instrument for materials and macromolecular studies. Here we briefly review some current progress in the areas of single molecule force spectroscopy, nanomechanical property mapping and thermal atomic force microscopy/lithography in the field of polymer research.
机译:在过去的20年中,原子力显微镜已经发展成为一种强大的工具,可用于聚合物材料和单个大分子的纳米级研究。应用范围很广,从单分子成像,结构研究和物理性质作图到机械化学和单个大分子的展开研究。令人惊讶的是,原子力显微镜可实现空前的<10 nm空间分辨率和单分子力敏感性,使其成为进行材料和大分子研究的独特仪器。在这里,我们简要回顾一下聚合物研究领域中单分子力谱学,纳米力学性质图谱和热原子力显微镜/光刻领域的一些最新进展。

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