High-resolution X-ray diffraction analysis of AlxGa1-xN/InxGa1-xN/GaN on sapphire multilayer structures: Theoretical, simulations, and experimental observations (vol 115, 174507, 2014)

著录项

• 来源
  《Journal of Applied Physics 》 |2015年第4期| 共1页
• 作者

  Jana Sanjay Kumar; Mukhopadhyay Partha; Ghosh SaptarsiKabi SanjibBag AnkushKumar RahulBiswas D.;

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• 作者单位

  IIT Kharagpur, Adv Technol Dev Ctr, Kharagpur 721302, W Bengal, India;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
• 中图分类 应用物理学 ;
• 关键词