しま·斑点画像パターンの修復を行う反応拡散モデルとそのLSI化

摘要

本論文は，欠損や汚れのある画像パターンをリアルタイムに修復するLSIの開発を目指したものである．そのために，生物の形づくりの原理に基づいて，指紋や体模様に見られるしま·斑点などのTuringパターンを生成·修復する反応拡散モデルを提案する．その後，そのモデルを実装する反応拡散チップの並列アーキテクチャを提案する．回路シミュレーションにより，このLSIがしま（斑点）パターンを復元できることを示す．