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【24h】

Barrier height of Hf/GaAs diode

机译:Hf/GaAs二极管的势垒高度

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摘要

Schottky barrier heights of 0.72 V for Hf/n‐GaAs and 0.68 V for Hf/p‐GaAs are experimentally obtained. These values agree with the empirical rule. Existence of an interfacial insulating layer is suggested.
机译:通过实验获得了Hf/n‐GaAs的肖特基势垒高度为0.72 V,Hf/p‐GaAs的肖特基势垒高度为0.68 V。这些值与经验规则一致。建议存在界面绝缘层。

著录项

  • 来源
    《journal of applied physics》 |1975年第7期|3221-3222|共页
  • 作者

    K. Kajiyama; S. Sakata; O. Ochi;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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