輝度値推移に基づく小児頭部MR画像からの皮質形成異常度推定法

摘要

皮質形成異常は難治性てんかん患者に多くみられる先天性脳疾患である．難治性てんかんの治療には責任病巣である皮質形成異常領域を切除する外科的手術が行われているため，小児頭部MR画像からの皮質形成異常部位検出は非常に有効である．しかし，皮質形成異常のMR画像上での画像特徴は明らかでなく，またその自動検出法も未だ確立されていない．本文では，大脳皮質の層構造に直交した直線の輝度値推移から算出される特徴量を用い，サポートベクターマシン（Support vector machine；SVM）で皮質形成異常度を推定する手法を提案する．また，我々の提案した従来法との精度比較を行う．本手法を適用した結果，小児頭部MR画像から，感度90.9％，特異度93.1％，有効度92.0％で皮質形成異常領域を検出できた．