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Comparison of electron sources for high‐resolution Auger spectroscopy in an SEM

机译:SEM中高分辨率俄歇光谱的电子源比较

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摘要

The effect of primary beam current and electron spot size on the Auger image resolution and signal‐to‐noise ratio (S/N) have been determined for field emission and thermionic emission sources. It is demonstrated that by use of a FE source and nA primary beam currents, an Auger image resolution of less than 1000 A˚ can be obtained. The major limitation to Auger spatial resolution is attributed to backscattered electrons. A LaB6source is clearly superior to FE sources at primary beam currents of greater than 1×10−8A.
机译:已经确定了主光束电流和电子光斑大小对俄歇图像分辨率和信噪比(S/N)的影响。结果表明,通过使用有限元源和nA初级束流,可以获得小于1000 A˚的俄歇图像分辨率。俄歇空间分辨率的主要限制归因于背散射电子。LaB6源在大于1×10−8A的初级束流时明显优于FE源。

著录项

  • 来源
    《journal of applied physics》 |1976年第12期|5464-5466|共页
  • 作者

    A. Christou;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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