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Interface recombination of charge carriers in bicrystals

机译:双晶中电荷载流子的界面复合

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摘要

A standard photoconductance measurement is suggested for determining the intergrain recombination velocity of excess charge carriers in a bicrystal. Analysis of the bicrystal photoconductance shows two important effects: First, if the grain size is much larger than the diffusion length, the excess‐carrier lifetime in a polycrystalline material will be indistinguishable from that in a single crystal with the same bulk and surface properties. Second, as the intergrain recombination velocity increases, its effect tends to saturate.
机译:建议采用标准光电导测量方法,用于确定双晶中过量电荷载流子的晶间复合速度。对双晶光电导的分析显示出两个重要影响:首先,如果晶粒尺寸远大于扩散长度,则多晶材料中的超量载流子寿命将与具有相同体积和表面特性的单晶中的超载流子寿命无法区分。其次,随着晶间复合速度的增加,其效果趋于饱和。

著录项

  • 来源
    《journal of applied physics》 |1979年第8期|5345-5347|共页
  • 作者

    John Y. Leong; Jick H. Yee;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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