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Preparation of high‐purity InP by the synthesis, solute diffusion technique

机译:通过合成、溶质扩散技术制备高纯度InP

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摘要

High‐purity InP crystals were prepared by the synthesis, solute diffusion (SSD) technique. By vacuum baking of raw indium at 900 °C for 6 h, the first‐to‐freeze part of InP had a carrier concentration ofND−NA= 6.4×1014cm−3at 300 K and a mobility of mgr; = 79 100 cm2/V sec at 77 K. It is concluded that S and/or Si contained in In raw material are dominat donor impurities in the SSD‐InP crystal, because their contents can be decreased by the vacuum baking.
机译:采用合成溶质扩散(SSD)技术制备了高纯度InP晶体。通过在900 °C下真空焙烧原铟6 h,InP的第一&连字符至&连字符冷冻部分在300 K时载流子浓度为ND−NA= 6.4×1014cm−3,在77 K时迁移率为&mgr; = 79 100 cm2/V秒。结果表明,原料中所含的S和/或Si是SSD‐InP晶体中的主要供体杂质,因为它们的含量可以通过真空烘烤来降低。

著录项

  • 来源
    《journal of applied physics》 |1981年第4期|2983-2986|共页
  • 作者

    Eishi Kubota; Kiyomasa Sugii;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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