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Comment on rsquo;rsquo;Capacitancehyphen;voltage measurements in amorphous Schottky barriersrsquo;rsquo;

机译:Comment on rsquo;rsquo;Capacitancehyphen;voltage measurements in amorphous Schottky barriersrsquo;rsquo;

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摘要

The bandhyphen;bending potential profileV(x) in the spacehyphen;charge region of an amorphous semiconductor moves regidly in thexdirection, with increased bias, irrespective of the form of the density of localized statesN(E). A recent paper by Singh and Cohen lsqb;J. Appl. Phys. 51, 413 (1980)rsqb; which suggest this is not true is incorrect in this point. This property leads to simplified schemes for the analysis ofChyphen;Vmeasurements and fieldhyphen;effect conductance measurements.

著录项

  • 来源
    《journal of applied physics 》 |1981年第1期| 517-518| 共页
  • 作者

    M. J. Powell; G. H. Douml; hler;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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