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Erratum: ‘‘Arsenic‐rich melt effect on threshold voltage scattering for Si‐implanted GaAs metal‐semiconductor field‐effect transistor’’ J. Appl. Phys.65, 846 (1989)

机译:勘误表: ''Arsenic‐rich melt effect on threshold voltage scattering for Si‐implanted GaAs metal‐semiconductor field‐effect transistor'' J. Appl. Phys.65, 846 (1989)

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  • 来源
    《journal of applied physics》 |1989年第5期|2232-2232|共页
  • 作者

    Yasuyuki Saito;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
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