電波吸収体の複素電磁パラメータのin-Situ測定に関する一検討

摘要

フランジ付き開放端同軸プローブに基づいた測定手法は，電波吸収体の材料常数の非破壊測定方法の1つとして注目を浴びている．2つの複素材料定数（複素誘電率と複素透磁率）を同時に決定するため，少なくとも2つの異なる測定条件に基づいた複素反射係数が必要である．本稿では，開放端同軸プローブに基いた電波吸収体の複素電磁パラメータを同時に検出するためのin-Situ測定法について検討し，従来の「膜厚変化法」を利用する際に，被測定材料において，二つ以上の異なる厚さが必須であるという制限を無くすために，寸法が異なる二つの開放端同軸プローブを用いることにより，二つの複素反射係数を測定する「プローブ変化法」を提案し，検討した．先ず，スペクトル領域法に基づいて，複素電磁パラメータと反射係数の関係式を導出した．次に，自働測定システムの構成を示した．最後に，電磁界シミュレーションと測定による反射係数を組み合わせることにより，磁性電波吸収体の複素材料定数を測定した．実験結果と参考値は一致していることにより，提案した測定法の有効性及び妥当性が確かめられた．