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Electron capture cross sections of the platinum donor level in silicon

机译:Electron capture cross sections of the platinum donor level in silicon

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摘要

Direct measurements of the electron capture cross section of the Ev+0.32 eV platinum donor level are reported. Deep level transient spectroscopy (DLTS) has been employed for the measurements. The cross section has been found to be temperature independent in the range 140-190 K with a value of 2.5+or-1.5*10-17cm2.

著录项

  • 来源
    《semiconductor science and technology》 |1990年第11期|1133-1135|共页
  • 作者

    N Baber; M Asghar; M Zafar Iqbal;

  • 作者单位

    Dept. of Phys., Quaid-i-Azam Univ., Islamabad, Pakistan;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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