30Gb／S光LSIの量産試験向けテスト手法の提案

摘要

クラウドコンピューティングの急成長により、データセンタ内部のトラフィックが指数的に増大しており、シリコンフォトニクス技術を用いた低電力かつ低価格な光インタコネクションデバイスの実用化に期待が寄せられている。そのような高速光通信ポートを備えたデバイスの量産試験環境を低コストで提供できるテストシステムのコンセプトモデルを提案する。キーパーツである高性能な光変調器を自社開発し、30Gb／sでのBit Error Rate （BER）テストを多数個同時に低コストで実現できる。また、電気と光の高速通信ポートを同時一括接続できる量産向けのデバイスインタフェースも開発し、耐久性や接続信頼性を評価した。