電子透かし検出問題のベイズ推定に基づく解法について

摘要

筆者は，電子透かしに関する最近の研究で，電子透かし埋め込み／検出システムの解析を行い，電子透かしシステムのモデルを透かし情報の入出力関係に注目してコンボリューションモデルとして記述した．そして，透かし入り画像に対する画像処理や攻撃によって透かし情報がどのように歪むのかを明確にし，透かし情報の歪みモデルを与えた．本稿では，この歪みモデルを応用して，電子透かしの検出問題をデコンボリューションの問題として定式化し，電子透かし検出問題のベイズ推定に基づく解法について議論する．