微摺動機構を用いた電気接点劣化現象～いくつかの条件下における最小摺動振幅に対する比較評価（2）

摘要

著者らは，電気接点等に微小な振動を与えるハンマリング加振機構を開発し，実験してきた．また，加振実験との比較を行うため，微摺動機構を開発し実験してきた．そして，微小な振動や摺動が，コネクタピンの接触抵抗に与える影響を考察してきた．摺動実験により，21.5時間以内にコネクタピンが劣化するための，最小の摺動振幅（駆動振幅，限界振幅）の存在が示唆された．本論文では，この限界振幅についての統計解析について報告する．行った統計解析は分散分析と母平均の推定である．