パルス光ブリルアン利得解析によるスプリッタ下部測定技術

摘要

光アクセスネットワークの主形態のPONにおいて、故障位置探索のために所外スプリッタからお客様宅までのOTDR試験をする場合、スプリッタ下部の各分岐ファイバからの後方散乱光が重なってしまうため、個別に損失分布測定するのは困難である。そこで、我々は既存の光アクセス網を変更せずにスプリッタ上部からスプリッタ下部個別の損失分布を測定可能な方法として、スプリッタ下部ファイバ長差とブリルアン利得解析法を利用した試験技術を提案している。本稿では、スプリッタ下部個別損失分布測定実験により、4分岐スプリッタ下部を空間分解能10mで測定したので報告する。