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机译:FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測
籔内美智太郎; 小林和淑;
京都工芸繊維大学工芸科学研究科;
FPGA; BTI; 特性ばらつき; 信頼性; 経年劣化予測;
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