データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法

摘要

近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提案手法の多くは，コントローラをスキャン設計するなどして，データパスとコントローラを分離して，データパスのテストを行うため，ハードウェアオーバヘッドが木きくなるという欠点がある．一方，データパスとコントローラを分離しない場合，高い故障検出率を達成するのは困難である．この問題を解決するため，データパスのテスト容易な構造に基づいてデータパスを動作させる制御機能をコントローラに付加する拡大法が提案されている．しかしながら，通常の順序回路のテスト生成法を用いた場合，テスト容易化設計の意図通りにテスト生成されず高い故障検出率を達成するのは困難となる．本論文では，データパス回路の“テスト容易化機能的k時間展開モデル”を導入し，コントローラの機能動作とデータパスのテスト容易な構造からデータパス回路のテスト容易化機能的k時間展開モデルを生成するためのコントローラ拡大法を提案する。実験により提案手法の有効性を示す．