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机译:ランダムテレグラフノイズ(RTN)の統計的評価手法と微細MOSFETばらつきへの影響
三木浩史; 手賀直樹; 山岡雅直D. J. FrankA. Bansal小林正治K. ChengC. R. DEmicZ. RenS. WuJ.-B. YauM. A. GuillornD.-G. ParkW. HaenschE. Leobandung鳥居和功;
T.J. Watson Research Center;
日立製作所中央研究所;
SRDC, IBM Corporation;
ランダムテレグラフノイズ; High-k; メタルゲート; BTI; 隠れマルコフモデル;
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