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SISPAD2015レビュー

机译:SISPAD2015レビュー

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摘要

2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices(SISPAD 2015)が2015年9月9日から11日にかけて、ワシントンD.C.で開催された。本稿では当会議で報告された論文の中から、招待講演、パワーデバイス、熱モデリング、信頼性、TCADの新しい応用、シリコンデバイス、FinFETs、メモリデバイス、コンパクトモデルの各分野に絞って、注目を集めた論文について、その概要を紹介する。

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