粗粒度動的再構成可能デバイスのPE部テストのためのDFT

摘要

本論文ではマルチコンテキストベース動的再構成可能デバイスのPE (Processing Element)部のBIST（組み込み自己テスト）手法を提案する．本手法は，動的再構成可能デバイスの基本データ処理要素であるPE中の既存のフリップフロップ(FF)を用いてテスト容易化設計としてLFSR，MISRの機能を有するテスト回路を構成する．これを用いる事により，高い故障検出率を維持したまま，テストに必要なテストコンフィギュレーション(TC)及びテスト時間を削減する事が可能となる．テスト回路は，既存のFFを用いて構成するため，面積オーバヘッドは少なく，尚且つ擬似乱数パターンを用いているので粗粒度のデバイスであっても高い故障検出率を維持する事ができる．評価は，NECエレクトロニクス社製のマルチコンテキスト型の動的再構成可能デバイスであるDRPを用いて行う．提案手法を適用する事により，従来の決定論的TCによりテストを行った場合と比較し，TC数を59.0％，テスト実行時間を89.3％削減でき，またその実装によるPEの面積オーバヘッドが4.3％となる事を確認した．