レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究

摘要

実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している.特に，瞬間的な過度の消費電力の増加は，過度なIR-dropを引き起こし誤テストの原因となる.このような誤テストを回避するためのテスト生成手法として畢要なのは，消費電力およびIR-dropを正しく迅速に見積もることと，消費電力を削減することである．テスト時の過度な消費電力を見積もる手法として重要なのは，回路全体の信号値遷移の合計だけではなく，過度なIR-dropが起こりそうな箇所を特定することも重要である.本稿では，テストベクトルを用いないで，過度な電力を消費するエリアを特定する手法を提案する.IWLS 2005ベンチマーク回路に対する実験では，提案手法が効果的に過度な電力を消費するエリアを特定することが可能であることを示す.