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机译:遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法
千葉大学大学院自然科学研究科;
千葉大学大学院融合科学研究科;
Graduate School of Science and Technology, Chiba UniversityGraduate School of Advanced Integration Sciences, Chiba University;
遅延故障テスト容易化FF; スキャンベクトル長圧縮法; テストデータ量削減; 1回スキャンイン操作; 2回スキャンイン操作; FFs with delay fault testability; scan vector length compression; one step scan-in operation; two step scan-in operation;