Study of layer disorder and microstructural parameters of molybdenumtungsten mixed sulpho-selenide Mo0.5W0.5SxSe2-x(0 ⩽x⩽ 2) by X-ray line profile analysis

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• 来源
  《Journal of Materials Science Letters》 |2004年第18期|1636-1637|共页
• 作者

  D.Palit; S.K.Srivastava; M.C.ChakravortiB.K.Samantaray;

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• 作者单位

  Indian Institute of Technology;

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
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• 关键词