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Determination of the probability density function of height on a rough surface from far-field coherent light scattering

机译:利用远场相干光散射确定粗糙表面高度的概率密度函数

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摘要

We show that if the first order probability density function of height on a rough surface is assumed to be symmetrical, it can be calculated from measurements of scattered coherent light made in and near the centre of the far-field. We derive the theory of the method and present some experimental results obtained for ground glass surfaces.
机译:我们表明,如果假设粗糙表面上高度的一阶概率密度函数是对称的,则可以通过在远场中心内和附近对散射相干光的测量来计算。本文推导了该方法的理论,并给出了磨砂玻璃表面的一些实验结果。

著录项

  • 来源
    《optical and quantum electronics》 |1979年第5期|413-418|共页
  • 作者

    P.J.Chandley;

  • 作者单位

    Imperial College;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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