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机译:抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法
三浦克介; 中前幸治; Katsuyoshi MIURAKoji NAKAMAE;
大規模集積回路; 故障診断; 回路抽出; プローバ; テストパターン; VLSI; Fault diagnosis; Circuit extraction; Prober; Test pattern;
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