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机译:AlO{sub}x:N/Si(100)界面の熱的安定性評価
竹野文人; 中川博; 大田晃生村上秀樹宮崎誠一Fumito TakenoHiroshi NakagawaAkio OhtaHideki MurakamiSeiichi Miyazaki;
アルミニウム酸化膜; シリコン窒化膜; 全反射赤外吸収分光分析; X線光電子分光分析; Oxide; Silicon nitride thin film; FT-IR-ATR; XPS;
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