Comment on 'Formation and atomic structures of double-layer steps on Si(100) surfaces studied by scanning tunneling microscope' by H.Q. Yang, C.X. Zhu, J.N. Gao, Z.Q. Xue, S.J. Pang Surface Science 429 (1999) L481-L485

著录项

• 来源
  《Surface Science: A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces 》 |2000年第3期| L263-L264| 共9页
• 作者

  Zandvliet HJW.;

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• 作者单位

  Univ Twente, Fac Appl Phys, POB 217, NL-7500 AE Enschede, Netherlands.;

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
• 中图分类 物理学 ;
• 关键词

  Scanning tunneling microscopy; Silicon; Single crystal surfaces; Vicinal si(001); Morphology; Edges;