タッピング·デバイスによる電気接点の劣化現象－タッピング·デバイスの試作（1）

摘要

著者らは，ハンマリング加振機構（HOM），摺動接触機構（SCM），および3次元加振機構（3DOM）によって外部微小振動が電気接点に与える影響について検討してきた．しかし，これらの機構では，対象物を専用のステージ上に載せる必要があるため，比較的大きなシステム内およびフィールド内における電気接点の試験を行うことには困難があった．そこで著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな“タッピング·デバイス（TPD）”を開発し試作した．本デバイスによれば，実施者の特殊な技量によらず被加振物に対して定荷重·定エネルギーで加振できることが示唆された．さらに，数学的および機械工学的なモデルにより本デバイスの動作特性を解析することが可能であることが示された．