Santecが、シリコンフォトニクスデバイス評価に適した波?掃引型フォトニクスアナライザ「SPA-100」を発表

摘要

santecは2?28?、OFDR （Optical Frequency Domain Reflectometry）技術を?いた波?掃引型フォトニクスアナライザ SPA-100を開発したと発表した。同製品は、santec波?可変レーザ （TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測, 波?依存損失計測, 近接センシング）を提供する分析装置だ。