机译:К ВОПРОСУ О КОРРЕЛЯЦИИ МЕЖДУ КОНЦЕНТРАЦИЕЙ ВВОДИМЫХ УГЛЕРОДНЫХ НАНОЧАСТИЦ И РЕЛЬЕФОМ ПОВЕРХНОСТИ ОРГАНИЧЕСКИХ МАТРИЦ В ПРИМЕНЕНИИ К ОРИЕНТАЦИИ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ
Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова, отдел ?Фотофизика наноструктурированных материалов и устройств?,Санкт-Петербург, Россия,Санкт-Петербургский электротехнический университет (ЛЭТИ), Санкт-Петербург, Россия,НИЦ Курчатовский Институт -;
Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова, отдел ?Фотофизика наноструктурированных материалов и устройств?,Санкт-Петербург, Россия,НИЦ Курчатовский Институт - Институт ядерной физики (ПИЯФ), Гатчина, Россия;
Санкт-Петербургский электротехнический университет (ЛЭТИ), Санкт-Петербург, Россия,НИЦ Курчатовский Институт - Институт ядерной физики (ПИЯФ), Гатчина, Россия;
органические материалы; полнимид; сенсибилизация; углеродные наночастицы; жидкие кристаллы; рельеф поверхности; смачивание поверхности;