ベイズ推定に基づく角度分解光電子スぺクトルの網羅的解析

摘要

角度分解光電子分光（ARPES）は外部光電効果を用いて，固体の表面やバルクにおける電子状態を実験的に観測する方法である。高温超伝導体や原子層物質，トポロジカル絶縁体など，様々な物質の電子状態がARPESによって明らかになり，それらの物性発現機構の解明につながっている。ある単一のバンドをARPESによって観測した場合，そのデータは理想的には次のスぺクトル関数に比例するものと見做せる。